专利计量指标研究进展及层次分析

[摘要]有效地利用专利计量指标可以挖掘专利数据中大量有价值的技术与法律信息。遗憾的是目前专利计量指标在我国的运用并不十分理想。本文在对专利计量指标相关研究进行全面梳理的基础上，分析当前专利计量指标研究中存在的主要问题与不足；根据专利文献的内在特性，将现有的专利计量指标划分为数量、质量、科技和速度4个层次。厘清专利计量指标的层次可以引导我们正确、有效的选择和使用相关指标，使专利信息更好地为企业技术创新服务。

[关键词]专利计量　指标　专利质量　指标层次

[分类号]G350

1　引言

专利作为技术信息的载体，自20世纪以来开始受到学术界的广泛关注。专利文献有着类似学术文献的特点，对专利文献各著录项进行深入分析，可以发现许多有价值的法律信息和技术信息。因而，学者们开始尝试将期刊文献领域的计量分析方法用于专利文献研究，专利计量分析应运而生。“专利计量”(patent bibli―omatHcs或patentometries)最早由Francis Narin于1994年提出，是指将数学和统计学的方法运用在专利研究中，以探索和挖掘专利文献的结构、数量以及变化规律等内在价值的计量方法。要对专利文献进行计量分析，计量指标的选择与构建必不可少。有鉴于专利信息在当今产业发展中扮演着越来越重要的角色，专利计量指标的构建与运用成为专利信息研究的一个重要议题。2007年在西班牙马德里举行的第11届科学计量与信息计量学国际研讨会的征文范畴之一就是“专利计量指标”研究，由此可见，专利计量指标已经成为当前研究的热点。

2　专利计量指标的研究进展

早在1837年，美国就开始运用专利统计结果作为衡量经济绩效的指标。由于当时专利文献的获取比较困难，专利指标限于专利授权数、重大发明数等一些较为基本和直观的指标。Seidel首先提出以计量方式分析专利文献，他建议利用卡片记录的方式，运用引用文献分析方法处理专利文献中所列出的引用信息，以进一步了解各项技术及研究之间的关系。但当时这一方法并未引起足够的注意，相关研究的发展也非常缓慢。1986年，美国知识产权研究公司(简称CHI)与美国科技信息所(Institute for Scientific Information，简称ISI)合作将期刊文献引用分析应用到专利领域，提供专利文献被引用的信息，自此，专利计量指标的研究开始活跃起来。从相关研究文献的发展历史来看，我们可以发现专利计量指标的研究经历了由简单到复杂，由数量、质量指标不断向科学技术与专利速度等内涵信息挖掘的发展过程。有关专利计量指标的研究概括起来有三类，即专利计量指标的必要性研究、专利计量指标的可行性研究以及专利计量指标体系的开发与应用研究。

2.1　专利计量指标研究的必要性

早期的专利计量研究大部分是围绕专利文献的本质探讨专利计量指标构建与研究的必要性。这类研究多是从专利文献的独特性出发，其基本观点是：对专利文献的分析能有助于我们更好地了解技术的发展历程以及技术的未来发展趋势，因而有必要建立专利计量指标体系，并对其进行深入的分析与研究。这类研究的主要分析方法是通过对期刊文献内容与专利文献内容之间的重叠进行探讨，例如，Allenand Oppenheimer分析了加拿大期刊所刊登的文献与专利文献的内容重叠程度，Eisenschitz等则针对药物及食品的专利，透过作者的交叉检索了解相关专利文献与期刊文献的重叠状况。对专利计量指标必要性的研究结论趋于一致，即：期刊文献与专利文献之间的重叠性是有限的，与其他技术文献资源相比，专利文献具有其独特性。因而，专利文献是了解相关产业的技术历程与进展的重要资源，深入研究专利计量指标，构建有效的专利计量指标体系非常必要。

2.2　专利计量指标建立的可行性

随着研究的进展与深入，大量文献开始对专利计量指标建立的可行性和有效性展开分析。这类研究的主要目的是验证专利计量指标分析结果的信度与效度，主要方法是就专利计量分析所建立的各类指标与基于期刊文献建立的计量指标或其他方法建立的指标进行比较，从而说明专利计量指标的理论基础与研究成果的信度和效度。Narin透过专利数的计算及发明人分布的研究，将文献计量分析中的洛特卡定律(Lot―ka’s Law)运用于专利文献计量分析中，验证了专利文献的洛特卡特性。Narin和Hamilton利用文献计量、专利计量与连接计量三种不同文献的计量分析了各种公共研究计划的执行成效，研究表明三种不同的计量方法的结果具有一致性，因此专利计量指标分析的结果有一定的可信度与有效性。除了验证文献计量研究方法对专利文献的适用性，如何从产业发展的角度解读专利计量分析所建立的各项指标，也是专利计量分析适用性的相关讨论中常被提及的议题之一。Car-penter等人利用专利引用分析所得到的产业机构影响力与企业评比结果进行比较，发现依据专利引用数据建立的指标与企业评比表现相同，两者呈现出正向相关。Meyer通过访谈研究也验证了专利指标具有相当的信度和效度。

2.3　专利计量指标体系的开发及应用

专利计量的最终目的是提取专利文献中的信息作为技术与管理研究的基础。从专利计量指标必要性、可行性及应用三类研究数量上看，国外研究中以利用专利计量指标了解和评估技术发展的应用类研究为最多。善于利用专利文献，在宏观上可以看出一国的科技竞争力、经济成长与科技发展的趋势；而在微观上，可以观察个别公司的技术能力、技术策略以及公司问的竞争信息，并作为授权、并购、合资以及股价评估的依据。尽管专利检索的准确性与全面性很难控制，容易造成分析上的误差，但是专利计量指标的重要性仍然不能小视，在信息搜寻更容易而且更精确的现在，专利计量指标已经被广泛应用于相关产业技术的分析上，在大量文献中被视为比较创新绩效的适当指标，因而被大量地应用到相关的研究和评价中。

3　现有专利计量指标研究中存在的问题与不足

构建适当、有效的专利计量指标，是进行专利文献研究的前提和基础。相关国家、国际组织都非常重视专利计量指标的研究及应用。目前全球较有影响力的指标有CHI专利计量指标体系、Ginarte―ParK指数法、OECD科技指标手册等；国内学者王九云、黄庆、杨晨等也分别构建了不同的知识产权或专利计量指标，深圳、上海、烟台市还陆续出台了区域知识产权或专利指标体系。这些指标对于我们认识专利信息及其价值有很大的帮助，但不容忽视的是，当前专利计量指标研究中仍存在一些问题与不足。

3.1　对专利计量指标的系统性与整体性研究相对缺乏

当前大部分研究是就专利某一方面的特性进行分析。例如，有些研究比较注重专利数量指标的分析，有些则仅对专利引用情况做研究，而从专利文献的整体

特性出发，构建系统全面的专利计量指标的研究还较少。导致大家在做具体分析时，对于专利文献信息的的了解往往是局部的，很难全面准确地反映专利的法律与技术信息。随着社会经济的发展以及科学技术与经济结合的日益紧密，这些单一的指标已经不能满足人们对专利进行深入分析的需求。

3.2　对各专利计量指标体系之间相互关系的研究也比较少

目前，国际上还没有一个公认的、通行的、标准化的专利计量指标体系，各研究机构都是按照自己的一套标准来构建相关指标，因而形成了多种指标体系并存的格局。错综复杂的专利计量指标体系，造成了实践选择和应用的困难。另外，这些评价指标体系对不同指标之间的多重共线性、相关性等问题没有深入的分析，使得某些指标作用可能会被重复计算，从而导致对因果关系的解释不准确。

为此，本文根据专利数据的内在特点，将现有研究中的各种指标划分为数量、质量、科技和速度4个层次，以避免不同层次指标之间的共线性，减少对某些因素作用的重复计算，对评价指标的因果和相关关系给出准确的解释。

4　专利计量指标的层次分析

4.1　专利数量指标

在专利各著录项中，数量是最容易获取也是最直观的指标，这是专利第一个层次的指标。利用专利数量来评估某一公司的研发能力在美国也是最早产生的，该类指标主要反映主体的专利意识和对专利的关注程度。通过对某段时间内某技术领域、国家、公司或个人所获得的专利数量的组合对比，可评估某一技术领域、国家、公司或个人的技术活动程度和水平、演变过程和发展趋势。初期的专利数量指标一般指专利申请数和专利授权数，经过长时间的研究发展，对专利数量指标体系的研究已较为成熟，在基本数量指标的基础上还延伸出一些比较指标，如专利成长率等。美国大多数公司和研究单位都在利用专利的成长数量和分布来监控一公司研发技术的发展走向，进而判断该公司的技术发展趋势。表1对目前主要数量指标的定义与意义进行了归纳和总结：

4.2　专利质量指标

随着学界对专利研究的深入，许多学者对专利数量指标的意义提出了质疑。Schmookler在尝试以专利统计数据揭示经济发展的相关性时，遇到了许多困难与瓶颈，瓶颈之一是各个专利影响力不同，如果仅加总专利数量有时无法看出其对经济社会的影响力。因此，专利数量的多少并不能很好地反映专利的价值、质量和影响力。为解决此问题，学者开始关注专利质量问题。如何判断和评价专利的质量是专利质量指标构建的初衷。我们将专利质量指标归为专利第二个层次的指标，该类指标主要反映专利的技术创新程度及技术影响力。

最早被用于评价专利质量的指标是专利的引用情况。早在1949年，Seidel就第一个系统地提出专利引用指标分析对于专利技术的重要性。1976年，美国专利商标局在《第六次技术评估和预测报告》里强调专利被引次数用于评价专利技术质量的重要意义。此后，很多学者陆续投入到专利引用指标的研究当中，进一步探讨了专利引用和技术重要性之间的关系。目前，探讨专利质量指标的研究越来越多，在已有的研究中，人们用来衡量专利质量的指标主要有：专利引用指标、专利权利要求范围、专利维持水平、专利家族大小、专利异议情况、专利诉讼情况等，如表2所示：

4.3　专利科技指标

专利是在特定的区域赋予新技术一定时期的独占权。专利的核心是技术，因此对专利技术特征的挖掘显得尤为重要，我们将其作为专利第三个层次的指标。通过对这些指标的分析，可以对技术的发展脉络有一个清楚的认识，便于发掘重点技术和难点技术。科技类指标包括科学指标和技术指标，科学指标表现专利与科学研究之间的联系，而技术指标表现专利的技术情况。表3归纳了与科学技术相关联的专利计量指标：

4.4　专利速度指标

专利速度指标由ipIQ公司首先提出，该指标用于衡量主体将技术或发明转变为知识产权的速度以及技术所处的阶段。目前对这类指标的研究还不多，因而研究成熟的计量指标也很有限。表4归纳了与专利速度相关联的专利计量指标：

5　结论

专利计量指标的构建与选择是挖掘专利信息的基础。目前，各种专利计量指标虽然很多，但是，单个指标只能表现专利某一方面的特性，只有将不同层次的计量指标综合使用，才能对某一主体或某一产业的专利进行正确的评价和研究。已有的实证研究表明，运用综合指标可以更准确有效地挖掘专利文献中的相关信息，减少误差。LanjOUW and Schankerman的研究发现用综合指标可以消减专利计量的误差，更好地评价专利质量，并通过实证研究发现利用综合指标可以降低20％－73％的专利质量误差。同样，针对不同的评价目的，应该选择不同的指标以及指标组合，并构建综合指标来全面反映专利的技术和法律信息。因而，我们在对专利计量指标的近期相关研究进行梳理的基础上，从专利本身的特性出发，将其分为专利数量指标、专利质量指标、专利技术指标和专利速度指标4个层次，有助于我们根据不同的计量目的，选择合适的指标。