集成测试范文
时间：2023-03-06 02:36:42
集成测试范文第1篇
【关键词】RouterOS 校园网 地址转换 防火墙 研究
1 ROS的主要功能特性
ROS的主要功能包括支持ipv4，ipv6协议，支持VPN功能，RADIUS和计费，状态防火墙，NAT，DHCP，VLAN，AP无线接入，WEB-CACHE和服务器等。
2 校园网构建的主要问题
大学校园网络的应用越来越普及，校园网用数量成几何级别增长，普通路由器在网络构建初期是无法被预设的，因为后期会出现大量的节点增加，因此校园网络管理中会出现各种各样的问题，如 IP 地址被恶意篡改、IP出现冲突、受到协议类的如FLOOD、ICMP等病毒的攻击，P2P、TCP线程耗尽带宽资源等问题。假设，在大型校园网预算过程中，既能保障网络的可靠运行，还不需要昂贵的网络产品费用，就需要找一个低成本高效率的路由器产品，而ROS 正好具备这些功能，因此，RouterOS得以在校园网中广泛应用。
3 集成与测试过程中的问题与解决方法
3.1 双线接入问题
为了更好的利用带宽资源，校园办公网络带宽是200M电信和100M网通，待机500人同时在线工作，由于是不同的网络，怎样让用户为访问不同的资源自动切换不同网络呢？RouterOS 系统集成的策略路由能很好地解决双线接入问题。
具体关键步骤：导入电信网地址表，为地址表命名；添加策略路由表，在 Mark处选地址表名，输入电信网关。注意事项：可用 Netwatch 定时检测电信网关的存在，不在时可把电信网关改为联通网关，以免路由失败，造成不能访问部分网络。
3.2 流量标记问题
做流量控制时候必须要先做基于端口的连接标记mark connect ，在做包标记packet mark；
in.interface表示从哪个接口要进来 例如从WAN口进来 表示下载 in.interface WANprerouting
ip firewall mangle add chain=prerouting in-interface=wan1 action=mark-packet new-packet-mark=download 整体下载流量标记
out.interace表示从哪个接口要出去 例如从LAN出去 表示上传 out.interface WAN forward
ipfirewall mangle add chain=forward out-interface=LAN action=mark-packet new-packet-mark=upload 整体上传流量标记
3.3 设置MSS问题
设置MSS最大分段大小 宽带多线拨入的时候，该项必须设置，而且是mangle表首位 ip firewall mangle add chain=forward protocol=tcptcp-flags=syn action=change-mss new-mss=1440 comment=changeMSS ，ADSL宽带拨号关键问题设置，MSS：光纤不需要设置MSS， ros6.27拨号后，自动在mangle表中创建CHANGE MSS的值为1440 D动态创建，测试：ping -f -l 1440。
3.4 端口映射问题
ADSL动态映射刷新脚本IntervalL 设置00：00：15秒触发一次，ip firewall nat add chain=dstnat protocol=tcpdst-address=172.16.250.100 dst-port=3389 action=dst-nat to-addresses=10.0.0.253 to-ports=3389例如：将内网IP：10.0.0.253 映射为 公网IP：172.16.250.100。
3.5 回流与映射问题
内部主机访问内网的主机只不过是通过内网网关以外的外部地址访问， 默认SNAT指定源地址到WAN出去，但是当有端口映射的访问时，内网访问的服务器IP正好是内网映射的公网IP那么此时会产生回流；
解决方法：两步：第一在原来的IP伪装处SNAT增加 out.interface为wan口此处是关键，第二：新建回流映射，与建立原来的IP伪装SNAT相同，增加out.interface为LAN达到其先从LAN出去再从WAN出去，回来时从对方LAN出去经过WAN出去，最后回来，而不是中间两个LAN或相同的LAN形成错误应答通信。形成从哪进从哪出的正常通信机制，不直接应答同一局域网的主机通过wan口访问进来请的请求。
总之：可以配置srcnat最终可以是从LAN口出去out.interface=LAN和从WAN口出去out.interface=WAN，而dstnat仅可以配置从LAN口进来in.interface=LAN。
设置方法：
回流的第一步设置 指定出口WAN #ip fire wall nat set 0 out-interface=wan1 回流的第一步指定出口WAN；
回流的第二步设置 指定出口LAN #复制一份原来的SNAT IP伪装上网的配置，然后设置：ip fire wall nat set 1 out-interface=LAN回流 由于出现DNAT，强制SNAT指定从LAN口出去到WAN 最后出去到达目标，哪怕是相同的在一个LAN内；
另外最简单设置回流办法例如：设置SNAT的chain=srcnat action=masquerade 即可，怎么都能访问对端服务器，但是会出现一个最大缺点，就是下端任何一台电脑接入ROS均可上网。
3.6 防火墙设置问题
通过ROS防火墙设置属于基于数据包的过滤的防火墙，防止ROS路由被Ping，ip firewall filter add chain=input protocol=icmp action=drop ROS防火墙，input 进入路由 发往ROS自己的数据 数据包的目的IP为ROS接口中的一个IP，output 从路由出发 从ROS发出去的数据 数据包的源IP是ROS接口中的一个IP ，forward 经过路由转发 通过ROS转发的的数据，内网访问外网，数据通过ROS转发出去。
主要的关键防火墙设置防止flood攻击的扫描：
禁止ping路由wan： ip firewall filter add chain=input protocol=icmp in-interface=LAN dst-address=172.16.250.100 action=drop
禁止ping路由lan： ip firewall filter add chain=input protocol=icmpin-interface=LAN dst-address=10.0.0.1 action=drop
3.7 动态限速问题
通过脚本做的动态限速：手工通过简单队列实现自动增加5台主机做相同的限速，以下命令通过终端粘贴，路由自动执行增加 缺点：简单队列越多，ros性能越低。
add增加白天速率，通过ADD增加白天速率，在终端里可以执行：for i from=1 to=254 do=queue simple add name=（"pc_".$i） target=（"10.0.0.".$i） max-limit=1M/2M burst-limit=2M/4M burst-threshold=750k/1500k burst-time=5s/5s limit-at=512K/1M
set设置晚间速率通过set修改晚间速率，在终端里可以执行 ：for i from=1 to=254 do=queue simple set find name=（"pc_".$i） max-limit=512K/1M burst-limit=1M/3M burst-threshold=600k/1M burst-time=5s/5s limit-at=512K/1M
通过脚本设计按自定义时间自动修改白天的网速和晚上的网速
添加一个白天脚本名称为baitian policy全选 source为 ：for i from=1 to=254 do=queue simple set find name=（"pc_".$i） max-limit=4M/4M burst-limit=4M/5M burst-threshold=3M/3M burst-time=15s/15s limit-at=2M/3M
添加一个晚上脚本 名称为wanshang policy全选source为：for i from=1 to=254 do=queue simple set find name=（"pc_".$i） max-limit=3M/6M burst-limit=3500K/7M burst-threshold=1750K/3500K burst-time=15s/15s limit-at=2M/5M
添加scheduler 任务计划
名称为 day start time=8：00：00 Interval=1d 00：00：00 ON EVENT=baitianpolicy 全选
名称为 night start time=20：00：00 Interval=1d 00：00：00 ON EVENT=wanshang policy 全选
4 RouterOS硬件选型注意的问题
4.1 硬盘选择问题
RouterOS本身是一个路由操作系统，需要放置在硬盘内执行，现在机械硬盘价格低廉服务器硬盘如SAS硬盘scisi硬盘都属于机械硬盘，受到使用环境影响，不可避免会出现震荡，潮湿，温度过热等情况导致异常损坏，由于固态硬盘的出现，彻底解决了此问题，建议使用intel固态硬盘或者三星850及以上固态硬盘，对容量灭有太多要求8G以上均足以。
4.2 网卡选择问题
RTL网卡是公认的性能最稳定的网卡，可是具体型号很难分辨是否适合ROS，早起winXP系统以前的通用PC机使用的均是RTL-8139网卡，但是此网卡耗费CPU资源较高，不建议使用在ROS上边，根据测试，intel82574千兆网卡适合用在ROS待机在500终端以内使用，intel82599及以上适合在1000以上ROS待机中使用，且资源耗费低，系统运行稳定。
4.3 服务器选择问题
互联网和云技术的发展，促使视频流与语音流信息不断增强，更多的资源等耗费较大的带宽，服务器的处理才是有效保障ROS稳定运行的依靠，不能够使用AMD平台做为ROS运行的平台，因此只能选择INTEL平台，特别是intel的xeon志强系列或I5/I7六代处理器及以后的产品均可用于ROS运行平台，服务器主板对应的使用B150/Z170及以上平台，该系列的主板均支持通电后自恢复功能，内存方面如果是服务器CPU则选择带ECC校验功能内存你，六代处理器以后平台建议选择超频内存，容量在理论方面要求不高，建议升到8G以上效果更佳，因为ROS系统不断的优化与更新，另外最好配备专属的UPS供电系统。
5 结束语
集成与测试过程中的问题还有很多，但是目前以上是作者在研究与使用过程当中发现的几个主要线索和关键问题，在校园网应用过程当中是一定会出现以上的问题，那么在其他网络中还有很多更强大的功能有待深度挖掘，也由此会出现不同的问题有待科技工作者深度开发与探索，目前ROS普及性仍被没有被打开，还是一些专业的网络工作者研究及使用，真正的把ROS的功能挖掘出来，将问题处理掉，一步一步的将其更简化的形成应用及测试、问题与解析，才真的有可能被后续科研工作者所认可，才能为人类带来便捷、高效、廉价的产品和服务。
（通讯作者：唐永林）
参考文献
[1]王进.RouterOS软件路由器在校园网中的应用[J].计算机光盘软件与应用，2012（04）：49-50.
[2]孙寒冰.关于RouterOS在校园网中的应用[J].科学之友，2011（10）：141.
[3]张建源.Router OS软路由技术管理校园网[J].数字技术与应用，2014（6）：29-30
[4]黄小琴.Mikro Tik Router OS在企业网络管理中的应用J.数字技术与应用，2012（02）：53
[5]唐永林.智慧旅游专业人才培养方案研究[J].长春师范大学学报，2015（06）：135-137
[6]陈家迁.RouterOS软件路由器在校园网中的应用研究[J].网络与信息工程，2016（09）：94-95
作者简介
王亮（1986-），男，吉林省农安县人。硕士研究生学历。双师型教师。吉林大学软件工程专业。研究方向为网络工程、物联网工程。
作者单位
1.吉林建筑大学城建学院 吉林省长春市 130114
集成测试范文第2篇
在上期栏目中我们给大家介绍了应对挑战的新方法，本期我们将详细介绍UML图表和美科利质量中心的详细解决方案，并对公司在UML和美科利质量中心集成中所获的体验和结果进行陈述。
使用UML活动图表和美科利质量中心的详细步骤如下：
1.确认模块：小组首先应该对系统进行分析，把系统细化成逻辑分类、模块和子模块。子模块应该是一些小型的、可管理的组成部分，可以便捷地添加入活动图表中。每个子模块都分配有一个特定ID。
2.描绘活动图表：使用Visio，为每个子模块创建一个详细的UML活动图表。每个活动图表显示用户和系统的系列行为，如“用户做了x”，接下来“系统做了y”，并且显示各类判断点。由于在美科利质量中心里创建和维护测试案例(TC)和测试包(TS)所依照的主要文档是活动图表，因此在任何数据输入到美科利质量中心之前，必须确保活动图表的正确性和完整性。接着围绕每个逻辑测试案例画一个虚线框，并标以TC01、TC02、TC03，依此类推。这些测试案例为步骤4中的测试包(测试场景)提供构建模块。
在活动图表中定义的测试案例和在美科利质量中心的TestDirector中创建的测试案例之间存在一对一的对等关系。为了避免错误，需要将Visio活动图表中的内容复制和粘贴到美科利质量中心内。在活动图表中，每个测试案例可以由若干验证点所组成。在美科利质量中心内，每个验证点都以独立的测试步骤输入，从而确保通过/失败可以互为分离。
3.输入测试案例：一旦在活动图表中确定了测试案例，就在美科利质量中心的测试计划树型图中为每个测试案例创建节点。这些测试案例节点应该显示在他们各自的子模块节点下。接着通过复制和粘贴活动图表中的内容，为每个测试案例输入测试步骤。
4.集合测试案例，形成测试包：在美科利质量中心的测试实验室树型图中，为每个处于相应模块节点下的测试包创建节点。一个测试包―或测试场景由两个或多个测试案例所组成，他们被联系在一起用于测试某个子模块的特定区域。通过查看活动图表，QA分析人员可以初步了解需要多少个测试案例组合才能全面测试一个子模块。
例如，如果图表显示TC01紧随其后是TC02，接着分叉至TC03、TC04和TC05，那么分析人员将要创建一个数据包，把TC01、TC02和TC03联系在一起，另外一个数据包把TC01、TC02和TC04联系起来，依此类推。这种测试包创建过程要涵盖所有的合理组合。通过这种方式，才能用测试案例库开发足够多的测试场景，从而确保全面、有效和系统的展开测试。
5.为测试包安装数据文件：在每个测试包中，有些测试案例可能需要数据文件，如用户输入的或系统检测的数据值。根据要求将这些值输入美科利质量中心的测试实验室。
6.执行测试包：无论从Execution Grid tab，还是从Execution Flow tab中，点击“运行”按钮来执行整个测试包或者单单执行测试包中的某些测试案例。在每个测试案例实现自动化之前，建议使用美科利TestDirector，对每个测试案例至少执行一次成功的手动测试。
7.为每个测试案例编写自动化脚本：一旦测试案例至少经历了一次手动运行，就要为测试案例创建一个自动化脚本。由介于测试案例层面上的美科利TestDirector来生成自动化脚本。使用了美科利QuickTest Professional。当然，任何美科利TestDirector支持的自动化工具都可以被使用。
由于创建各种测试包组合需要多次使用测试案例，每个测试案例和自动化测试脚本都是可重复使用的组件。这样不仅理顺了测试包的开发过程，也提高了维护工作的效率。对测试案例所作的任何变更都会自动反映在使用该测试案例的所有测试包中，从而避免了在多个方位更新相同的信息。
美科利TestDirector架构的客户定制
实施了美科利TestDirector的客户定制，下面是变更的详细过程：
测试包的创建和脚本的选择
测试包的结构如下所示 ：
Initialize Environment
Test Script Instance_1
Test Script Instance_2
Test Script Instance_N
InitializeEnvironment是一种特殊的脚本，用于处理测试包执行时的所有初始化需求。使用脚本的确切方位由设定在美科利QuickTest Professional中的执行参数决定。当创建测试包、并且还没有相关测试数据时，使用美科利TestDirector OTA APIs可以自动将脚本加入测试包。
测试包创建完成后，测试人员可以根据需要添加测试案例。在添加每个测试案例时，用已经编写的工作流代码来验证该测试案例是手动的还是自动的。如果是自动测试案例，就执行工作流代码，确定在测试包中加入什么测试。工作流代码还能连接自动化脚本所在的美科利TestDirector服务器，并将默认数据表格附加到测试实例中(test instance)。默认数据表格确定某个特定测试需要执行哪些条目，但是它不包含任何测试数据。
在脚本开发的同时，文档定义也完成了。在默认数据表格附加到测试实验室中的测试实例上时，用户可以打开该文档，为该测试实例添加所需的任何测试数据。这样，该机构可以增加既简单又灵活的框架――每个测试包将拥有多个测试脚本实例，但是这些实例可以单独执行，给出独立的测试数据。当测试人员增加数据包，并且添加测试数据时，可以使用美科利TestDirector中的附件数据表格，输入数据，保存文件，并再次上传。如果增加的是手动测试，以上这些步骤都不需要。
测试实例
测试包中其它所有的脚本都是测试案例的实例，可以分成四个部分：
初始化和预处理
由于是一家大型网站，业务遍及多个国家，需要通过一种方法来创建一套可以让位于不同国家的小组成员都能使用的脚本。由于美科利QuickTest Professional中的内置数据库检查不允许联结字符串的参数化，无法实现在多个方位展开数据库验证任务。但是，公司通过内置的对象存储库(object repository)，在用户端界面上实现了这个目标。
小组通过在使用ADO的VBScript中创建定制等级，以及通过使用测试包中的用户定义域来说明联结字符串的组件，很好地解决了这个问题。小组将它们作为其全球变量，因为美科利QuickTest Professional不允许跨脚本实例的全球变量。这些用户定义域是DatabaseChecks、DBDataSource、DBSchemaName、DBPassword和Country。
在执行测试包中的测试实例时，首要任务就是调用内部库中的一个功能，将这些变量值读入OTA中，并存储在Dictionary object中。小组就可以给这些全球变量加上可读的注释(如：GlobalVariables.Item (“DatabaseChecks”))。该阶段还有一个任务就是导出附件数据表格，当该特定测试案例的测试数据在美科利QuickTest Professional中上传并在测试中使用后，就可以导出数据表格。
测试脚本主体
在该测试阶段执行测试步骤。
后端数据库验证
脚本的这个阶段中，执行所有需要的数据库验证。在测试脚本初始化和预处理阶段所读入的记号和联结字符串组件都在该阶段被使用。此外，测试检查DatabaseChecks定义域是否被设定成“TRUE”。如果是的话，就知道存在需要执行的数据库检查任务。接着，测试可以例示数据库等级，从数据表格中读入预期的结果，并验证这些值。所有这些在数据库等级中都被定义成可重复使用的方法。
整理和后期处理
测试已执行完成，在对测试包中的下一个测试实例进行测试之前，应该对前一测试进行整理。需要一种方法来巡视AUT中的适当方位，因此小组在内部库中创建了一个功能，使用美科利TestDirector OTA API’s来观测数据包中下一数据实例的名称。测试名称的前三位字母决定了测试人员应该巡视的具体方位。如果下一个测试案例名称的前三位字母和当前的不一样，那就执行代码将AUT移入合适的方位。如果相同的话，无需进行任何操纵，因为在用户界面的正确方位上测试已经展开了。
总结：业务案例成果
开发小组通过采用了UML方式――由美科利质量中心提供支持，从需求阶段直至部署阶段，更好地定义、衡量、管理和提升应用的质量，在降低质量风险的同时，缩短了应用的上市时间。
集成测试范文第3篇
中国集成电路测试产业投资咨询报告
报告属性
【报告名称】中国集成电路测试产业投资咨询报告
【报告性质】专项调研：需方可根据需求对报告目录修改，经双方确认后签订正式协议。
【关键词】集成电路测试产业投资咨询
【制作机关】中国市场调查研究中心
【交付方式】电子邮件特快专递
【报告价格】协商定价（纸介版、电子版）
【定购电话】010-68452508010-88430838
报告目录
一、集成电路测试概述
(一)集成电路测试产业定义、基本概念
(二)集成电路测试基本特点
(三)集成电路测试产品分类
二、集成电路测试产业分析
(一)国际集成电路测试产业发展总体概况
1、本产业国际现状分析
2、本产业主要国家和地区情况
3、本产业国际发展趋势分析
4、2007国际集成电路测试发展概况
(二)我国集成电路测试产业的发展状况
1、我国集成电路测试产业发展基本情况
2、集成电路测试产业的总体现状
3、集成电路测试行业发展中存在的问题
4、2007我国集成电路测试行业发展回顾
三、2007年中国集成电路测试市场分析
(一)我国集成电路测试整体市场规模
1、总量规模
2、增长速度
3、各季度市场情况
(二)我国集成电路测试市场发展现状分析
(三)原材料市场分析
(四)集成电路测试区域市场分析
(五)集成电路测试市场结构分析
1、产品市场结构
2、品牌市场结构
3、区域市场结构
4、渠道市场结构
四、2007年中国集成电路测试市场供需监测分析
(一)需求分析
1、产品需求
2、价格需求
3、渠道需求
4、购买需求
(二)供给分析
1、产品供给
2、价格供给
3、渠道供给
4、促销供给
(三)市场特征分析
1、产品特征
2、价格特征
3、渠道特征
4、购买特征
五、2007年中国集成电路测试市场竞争格局与厂商市场竞争力评价
(一)竞争格局分析
(二)主力厂商市场竞争力评价
1、产品竞争力
2、价格竞争力
3、渠道竞争力
4、销售竞争力
5、服务竞争力
6、品牌竞争力
六、影响2007-2010年中国集成电路测试市场发展因素
(一)有利因素
(二)不利因素
(三)政策因素
七、2007-2010年中国集成电路测试市场趋势预测
(一)产品发展趋势
(二)价格变化趋势
(三)渠道发展趋势
(四)用户需求趋势
(五)服务发展趋势
八、2008年集成电路测试市场发展前景预测
(一)国际集成电路测试市场发展前景预测
1、国际集成电路测试产业发展前景
2、2010年国际集成电路测试市场的发展预测
3、世界范围集成电路测试市场的发展展望
(二)中国集成电路测试市场的发展前景
1、市场规模预测分析
2、市场结构预测分析
(三)我国集成电路测试资源配置的前景
(四)集成电路测试中长期预测
1、2007－2010年经济增长与集成电路测试需求预测
2、2007－2010年集成电路测试行业总产量预测
3、我国中长期集成电路测试市场发展策略预测
九、中国主要集成电路测试生产企业(列举)
十、国内集成电路测试主要生产企业盈利能力比较分析
(一)2003-2007年集成电路测试行业利润总额分析
1、2003-2007年行业利润总额分析
2、不同规模企业利润总额比较分析
3、不同所有制企业利润总额比较分析
(二)2003-2007年集成电路测试行业销售毛利率分析
(三)2003-2007年集成电路测试行业销售利润率分析
(四)2003-2007年集成电路测试行业总资产利润率分析
(五)2003-2007年集成电路测试行业净资产利润率分析
(六)2003-2007年集成电路测试行业产值利税率分析
十一.2008中国集成电路测试产业投资分析
(一)投资环境
1、资源环境分析
2、市场竞争分析
3、税收政策分析
(二)投资机会
(三)集成电路测试产业政策优势
(四)投资风险及对策分析
(五)投资发展前景
1、集成电路测试市场供需发展趋势
2、集成电路测试未来发展展望
十二、集成电路测试产业投资策略
(一)产品定位策略
1、市场细分策略
2、目标市场的选择
(二)产品开发策略
1、追求产品质量
2、促进产品多元化发展
(三)渠道销售策略
1、销售模式分类
2、市场投资建议
(四)品牌经营策略
1、不同品牌经营模式
2、如何切入开拓品牌
(五)服务策略
十三、投资建议
(一)集成电路测试产业市场投资总体评价
(二)集成电路测试产业投资指导建议
十四、报告附件
(一)规模以上集成电路测试行业经营企业通讯信息库(excel格式)
主要内容为：法人单位代码、法人单位名称、法定代表人(负责人)、行政区划代码、通信地址、区号、电话号码、传真号码、邮政编码、电子邮箱、网址、工商登记注册号、编制登记注册号、登记注册类型、机构类型……
(二)规模以上集成电路测试经营数据库(excel格式)
主要内容为：主要业务活动(或主要产品)、行业代码、年末从业人员合计、全年营业收入合计、资产总计、工业总产值、工业销售产值、工业增加值、流动资产合计、固定资产合计、主营业务收入、主营业务成本、主营业务税金及附加、其他业务收入、其他业务利润、财务费用、营业利润、投资收益、营业外收入、利润总额、亏损总额、利税总额、应交所得税、广告费、研究开发费、经营活动产生的现金流入、经营活动产生的现金流出、投资活动产生的现金流入、投资活动产生的现金流出、筹资活动产生的现金流入、筹资活动产生的现金流出……
十五、报告说明
(一)报告目的
(二)研究范围
(三)研究区域
(四)数据来源
(五)研究方法
(六)一般定义
(七)市场定义
(八)市场竞争力指标体系
(九)市场预测模型
(十)特别说明
集成测试范文第4篇
关键词：SCADA；系统；集成
中图分类号：TM734
相对来说，在过去的工作当中，科研人员也曾经将数控技术和监视控制系统等一些高科技产品、技术、系统进行融合，但是得到的效果并不理想。往往的情况都是，系统之间、技术之间会发生一些冲突，如果完全取消冲突，那么最后的功能性和适用性就会下降，不仅影响工作效率，同时对经济效益的影响也很大。在这种情况下，部分研究工作便搁置下来。SCADA主站系统集成测试技术的出现，打破了传统科研上的界限，使原来搁置的工作能够重新进行。在此，本文主要对SCADA主站系统集成测试技术进行一定的研究。
1 SCADA主站系统集成测试内容
1.1 单元测试
对于SCADA主站系统集成测试技术来说，要想得到一个理想的结果，首先需要对系统集成测试的内容有所了解。在此，本文对单元测试进行一定的阐述。单元测试是整个系统集成测试的基础部分，其主要目的在于，检验软件模块的设计以及开况。各个部分的工作人员以及测试人员，通过开发测试环节进行相对的测试，发现问题或者指标不对，及时进行调整，以免影响开发进度。另一方面，集成测试也有目的，主要是为了检验子部软件模块的集成情况。由于SCADA主站系统集成测试技术比较先进，任何一个细节都有可能对总体的性能和效果产生影响，因此在日后的研究工作当中，我们需要将重点放在测试子部件的接口功能上，通过相对应的测试环境进行测试工作，这样既能避免一些外界因素的影响，同时在测试结果上也可以提高精确度。
1.2 主站系统的集成测试
对于系统的测试来说，除了要在上述的单元测试上努力，还要在主站系统的集成测试上努力。就目前的情况来说，SCADA主站系统集成测试技术已经到了一个非常关键的时期，主站系统的继承测试对最后的成果具有决定性的影响，如图1所示：
图1 主站系统集成测试内容
从目的来看，此项测试主要考察的是系统的整体性能指标，因为系统在最后应用的时候，所有的指标都要达到预期的要求，否则将视为失败。图1表示的系统集成测试的主要内容，从图中可以清晰的看到，测试内容较多，并且在很多方面都需要利用多种测试方法来进行。比方说，在性能指标的测试当中，除了要考察主站系统的基本时间相应指标以及容量指标，工作人员还要对系统的负荷率以及软件的编程质量进行仔细的考核。由于SCADA主站系统集成测试技术是由多个环节组成的，并且在各个方面都集结了相关领域的高精尖产品和技术，为了保证不再发生任何的冲突，因此必须对每一个部分都进行完善的测试，力求在根本上提高系统的性能，在未来的应用当中，也可以创造更大的效益。
2 主站系统的集成测试方法
在SCADA主站系统集成测试技术的研究过程中，要想让每一个指标都合格，就必须全面测试，尤其是一些细节部分，这些既是SCADA主站系统集成测试技术的关键部分，也是容易出现问题的部分。在总体的系统当中，任何一个细节都具有“牵一发而动全身”的效果。所以，在实际的测试工作中，必须采用针对性的方式来进行。在此，本文对主站系统的集成测试方法进行一定的阐述：
2.1 性能响应指标测试
对于任何一个系统来说，性能响应指标测试都是不可或缺的重要测试之一，此项测试既要符合现阶段的发展情况，同时又要对未来做出一定的估量。随着社会的不断发展，很多企业对系统的要求都在提高，性能响应就是其中一个非常重要的方面。相对来说，响应性能指标如果能够提升，将大大加快系统的工作效率，为企业带来更多的收益。本文认为，在性能响应指标测试当中，除了测试一般的指标之外，还要看它在满负荷以及超负荷下指标的工作情况。通常情况下，如果系统是满负荷的状态，测试各项性能指标都不能超过25%，并且满负荷与超负荷是以主站系统的设计容量为分界线。
表1 主站时间响应性指标
主站性能指标 正常状态（响应时间S） 满负荷（响应时间S）
功能窗口调用
实时信息变化
告警显示
事故画面推出
双机切换
2.2 容量指标测试
容量指标测试在总体的工作当中，并不是特别困难，但却需要严格的按照规范来操作。首先，容量接入远动终端数量必须满足设计的基本要求；其次，介入的量测数量也要满足设计的要求。对于目前的工作来说，任何一个环节都要达到基本要求，同时还要有所提高，如果仅仅是达到基本要求，那么容量指标的测试结果一定不会太理想，甚至会对后续工作产生不良影响，所以在这个方面，要不断的提升。
2.3 系统负荷率指标
SCADA主站系统集成测试技术在实际的应用当中，需要根据不同的工作环节，发挥不同的作用。上述的两个部分在实际的研究工作当中，都占有核心地位，但是如果仅仅依靠上述两个指标，就判定SCADA主站系统集成测试技术合格，是不够的。我们还需要对系统负荷率指标进行一定的测试：首先，在正常的工作情况下，CPU负荷率的测试工作，可以利用操作系统自带的系统性能分析工具来完成，这样不仅省时省力，同时在结果方面也比较可行；其次，网络负荷率的测试工作也是不可忽视的一面，工作人员需要对主站系统进行各种各样的操作，详细的记录和观察结果，通过网络性能测试仪来监测网络负荷率的变化情况。
3 结束语
本文对SCADA主站系统集成测试技术进行了一定的研究，从目前的情况来分析，测试技术比较成熟，并且在很多的方面都表现出了较大的优点，是值得肯定的。在未来的工作当中，需要加强细节方面的工作，避免对系统的性能和未来的应用范围产生影响。
参考文献：
[1]宋璇坤，李敬如，肖智宏，林弘宇，李震宇，邹国辉，黄宝莹，李勇.新一代智能变电站整体设计方案[J].电力建设，2012（11）.
[2]陈宏，黄国方，陈金猛，夏勇军.基于IEC 61850的变电站二次系统工程调试与质量控制[J].电力建设，2012（09）.
[3]王洪帅，徐青山，袁宇波，张小易，高磊，宋亮亮.智能变电站非对称式光纤差动保护同步性测试方法[J].电力系统自动化，2011（18）.
[4]王婷婷.SCADA系统中数据传输安全性研究[D].华东理工大学，2013.
[5]刘东，闫红漫，丁振华，袁智强，王勇.SCADA主站系统集成测试技术研究[J].电网技术，2005（02）：62-67.
[6]杨帆，孙姗，郭抒然.电力调度SCADA数据转发配网SCADA系统的方案分析[J].电子世界，2013（19）：51-52.
作者简介：周燕（1981.01-），女，四川泸州人，工程师，工程硕士，研究方向：计算机软件及技术。
集成测试范文第5篇
集成电路(Ic)的静电放电(ESD)强固性可藉多种测试来区分。最普遍的测试类型是人体模型(HBM)和充电器件模型(CDM)。这两种EsD测试类型旨在揭示包含基本EsD控制的制造环境下，电路在EsD应力下的存续情况如何。HBM是应用最久的EsD测试，但工厂EsD控制专家普遍认为，在现代高度自动化的组装运营中，CDM是更重要的ESD测试。CDM应力的大小会随着器件的尺寸而变化。有关CDM的“传统智慧”更认为不需要测试尺寸极小的集成电路，因为峰值电流快速变小直至消失。我们在此前的文童中曾指出，极小器件的峰值电流并不像通常认为的那样快速变小直至消失。高速示波器测量显示，即使脉冲宽度变得很窄，极小器件的峰值电流仍令人吃惊地保持高电平。过去，由于这些大峰值电流被忽略，因为使用了场致CDM测试标准所提倡的1GHz示波器，而场致CDM测试是最普及的CDM测试形式。
测试小器件时面临的问题
观测到极小集成电路超出预料的峰值电流，对负责测试极小器件(尺寸仅为较小的个位数毫米等级)的ESD测试工程师而言可不是什么好消息。图1显示了置于场致CDM测试装置上的8球栅(ball)芯片级封装。必须接触每个被测引脚的探针(的尺寸)占到整个集成电路尺寸的不小比例。显而易见，移动被测器件并不需要太多的探针接触：只是要求反复调整器件的位置。
在场致CDM测试期间、按惯例要使用真空来固持(hoId)被测器件(DUT)的位置。真空通常不能非常安全地固持极小的器件。此外，真空孔(的截面积)占到被测器件尺寸的不小比例，可能会影响器件应力。当真空孔尺寸超过被测器件面积的18％时，应力的大小就开始下降。图2比较了置于真空孔与不置于真空孔上的器件在峰值电流或完整电荷(total charge)条件下测量得到的应力大小。
在CDM测试期间使用真空来固持器件，由此带来两个问题。首先，它不起作用，即便起作用，也会开始影响测试结果。业界已经尝试使用两种方法来改善小器件的可测试性――将小封装贴在某类夹具(holder)上，或以支撑结构或模板来固持器件的位置。
使用夹具固持小器件
已经在三种条件下使用6uSMD裸片来进行cDM测试：仅器件本身、器件贴装在14DIP转换板上，以及在36LLP替代板(Surrogate Board)上，如图3所示。图4显示了这三种条件下以500 v电压采用8 GHz示波器所获得的CDM测试波形。这些结果显示，贴装在电路板上会增加施加给集成电路的应力。36LLP替代板上应力的增加颇为适度，可以视为易于操作性与更可靠测试结果之间的最佳折衷。贴装在14DIP转换板上的应力增加更为严重，大概不是一个可接受的折衷办法。好消息是36LLP替代板实际上比测试期间会移动的14DIP转换板更易于操作。
支持模板
第二种处理小型集成电路的方法是使用支持模板。业界存在关于支持模块这种方法的顾虑：由于小器件周围有介电常数较高的材料，介电的存会在多大程度上改变集成电路与场板(6ddplate)之间的电容?被测器件与场板之间的电容是被测器件上应力大小的决定因素。图s显示了固定在CDM装置中一个模板内的6usMD封装。此时被测器件位于绝缘体中精心加工的孔，而绝缘于cDM装置使用真空的场板中。图6显示了6LLP封装使用与不使用FR4支持模板时以8GHz示波器捕获的波形。此图显示这模板在测试条件下仅为集成电路增加极小的应力。
结论
集成测试范文第6篇
本报告通过深入调查分析，把握行业目前所处的全球和国内宏观经济形势，具体分析该产品所在的细分市场，对通用集成电路测试系统行业总体市场的供求趋势及行业前景做出判断；明确目标市场、分析竞争对手，了解产品定位，把握市场特征，发掘价格规律，创新营销手段，提出通用集成电路测试系统行业市场进入和市场开拓策略，对行业未来发展提出可行性建议。
报告属性
【报告性质】专题调研
【报告名称】
2009-2010年中国通用集成电路测试系统产业专题调查分析报告
【表述方式】文字分析、数据比较、统计图表浏览
【交付周期】3—5个工作日
【报告价格】8900元
【制作机关】中国市场调查研究中心
【定购电话】
86-10-88430838(刘老师)88864829(高老师)88864539(云老师)88893867(姜老师)
【传真】86-10-68450238合同下载
报告目录
第一章通用集成电路测试系统产业市场基本情况分析
第一节市场发展环境分析（宏观经济环境、产业市场政策……）
一、2009年我国宏观经济运行情况
二、我国宏观经济发展运行趋势
三、市场相关政策及影响分析
1、全球经济危机对中国宏观经济的消极影响
2、全球经济危机对通用集成电路测试系统行业的消极影响
3、全球经济危机对上下游产业的消极影响
4、中国扩大内需保增长的政策解析
5、行业未来运行环境总述
第二节产业市场基本特征（定义分类或产业市场特点、发展历程、市场重要动态……）
一、市场界定及主要产品
二、市场在国民经济中的地位
三、市场特性分析
四、市场发展历程
五、国内市场的重要动态
第三节产业市场发展情况（现状、趋势、市场重要动态……）
一、市场国际现状分析
二、市场主要国家情况
三、市场国际发展趋势分析
四、国际市场的重要动态
第二章2009年我国通用集成电路测试系统产业市场经济运行情况
第一节2009年我国产业市场发展基本情况（现状、技术、产业市场运行特点……）
一、市场发展现状分析
二、市场特点分析
三、市场技术发展状况
第二节我国本产业市场存在问题及发展限制（主要问题与发展受限、基本应对的策略……）
第三节市场上、下游产业发展情况（上、下游产业对本产业市场的影响）
一、市场上游产业
二、市场下游产业
第四节2006年-2009年产业市场企业数量分析（近年内企业数量的变化情况以及各类型企业的数量变化……）
一、2006-2009年企业及亏损企业数量
二、不同规模企业数量
三、不同所有制企业数量分析
第五节2006年-2009年从业人数分析（近年内从业人员的变化情况以及各类型企业的数量变化……）
一、不同规模企业从业人员分析
二、不同所有制企业比较
第六节本产业市场进出口状况分析（本产业市场内主要产品进出口情况）
第三章2009年我国通用集成电路测试系统产业市场生产状况分析
第一节2006年-2009年市场工业总产值分析
一、2006-2009年市场工业总产值分析
二、不同规模企业工业总产值分析
三、不同所有制企业工业总产值比较
四、2009年工业总产值地区分布
五、2009年总产值前20位企业对比
第二节2006年-2009年市场产成品分析（产成品、产成品区域市场）
一、2006-2009年产业市场产成品分析
二、不同规模企业产成品分析
三、不同所有制企业产成品比较
四、2009年产业市场产成品地区分布
第三节2006年-2009年本产业市场产成品资金占用率分析
第四章2009年我国通用集成电路测试系统产业市场销售状况分析
第一节2006年-2009年市场销售收入分析（产品销售收入、不同规模的企业销售收入、不同企业类型的销售收入）
一、2006-2009年产业市场总销售收入分析
二、不同规模企业总销售收入分析
三、不同所有制企业总销售收入比较
第二节2009年本产业市场产品销售集中度分析
一、按企业分析
二、按地区分析
第三节2006年-2009年本产业市场销售税金分析
一、2006-2009年产业市场销售税金分析
二、不同规模企业销售税金分析
三、不同所有制企业销售税金比较
第五章2009年我国通用集成电路测试系统产业市场成本费用分析（销售成本、销售费用、管理费用、财务费用、成本费用利润率……）
第一节2006-2009年市场产品销售成本分析
一、2006-2009年产业市场销售成本总额分析
二、不同规模企业销售成本比较分析
三、不同所有制企业销售成本比较分析
第二节2006-2009年市场销售费用分析
一、2006-2009年产业市场销售费用总额分析
二、不同规模企业销售费用比较分析
三、不同所有制企业销售费用比较分析
第三节2006-2009年市场管理费用分析
一、2006-2009年产业市场管理费用总额分析
二、不同规模企业管理费用比较分析
三、不同所有制企业管理费用比较分析
第四节2006-2009年市场财务费用分析
一、2006-2009年产业市场财务费用总额分析
二、不同规模企业财务费用比较分析
三、不同所有制企业财务费用比较分析
第五节2006-2009年市场成本费用利润率分析
第六章2009年我国通用集成电路测试系统产业市场资产负债状况分析（总资产、固定资产、总负债、流动资产、应收账款、资产负债率……）
第一节2006-2009年市场总资产状况分析
一、2006-2009年产业市场总资产分析
二、不同规模企业资产规模比较分析
三、不同所有制企业总资产比较分析
四、总资产规模前20位企业对比
第二节2006-2009年市场固定资产状况分析
一、2006-2009年产业市场固定资产净值分析
二、不同规模企业固定资产净值分析
三、不同所有制企业固定资产净值分析
第三节2006-2009年市场总负债状况分析
一、2006-2009年产业市场总负债分析
二、不同规模企业负债规模比较分析
三、不同所有制企业总负债比较分析
第四节2006-2009年市场流动资产总额分析
一、2006-2009年产业市场流动资产总额分析
二、不同规模企业流动资产周转总额比较分析
三、不同所有制企业流动资产周转总额比较分析
第五节2006-2009年市场应收账款总额分析
一、2006-2009年产业市场应收账款总额分析
二、不同规模企业应收账款总额比较分析
三、不同所有制企业应收账款总额比较分析
第六节2006-2009年市场资产负债率分析
第七节2006-2009年市场周转情况分析
一、2006-2009年总资产周转率分析
二、2006-2009年流动资产周转率分析
三、2006-2009年应收账款周转率分析
四、2006-2009年流动资产周转次数
第八节2006-2009年市场资本保值增值率分析
第七章2009年我国通用集成电路测试系统产业市场盈利能力分析（利润总额、销售毛利率、总资产利润率、净资产利润率……）
第一节2006-2009年市场利润总额分析
一、2006-2009年产业市场利润总额分析
二、不同规模企业利润总额比较分析
三、不同所有制企业利润总额比较分析
第二节2006-2009年销售毛利率分析
第三节2006-2009年销售利润率分析
第四节2006-2009年总资产利润率分析
第五节2006-2009年净资产利润率分析
第六节2006-2009年产值利税率分析
第八章2009年我国通用集成电路测试系统产业市场经济运行最好水平分析（资本保值增值率、资产负债率、产值利税率、资金利润率……）
第一节2006-2009年资本保值增值率最好水平
第二节2006-2009年资产负债率最好水平
第三节2006-2009年产值利税率最好水平
第四节2006-2009年资金利润率最好水平
第五节2006-2009年流动资产周转次数最好水平
第六节2006-2009年成本费用利润率最好水平
第七节2006-2009年人均销售率最好水平
第八节2006-2009年产成品资金占用率最好水平
第九章2009年我国通用集成电路测试系统产业市场重点企业竞争状况分析（产业市场按销售收入前10企业）
第一节2009年企业地区分布
第二节销售收入前10名企业竞争状况分析
一、企业基本情况
（法人单位名称、法定代表人、省、主要业务活动、从业人员合计、全年营业收入、资产总计、工业总产值、工业销售产值、出货值、工业增加值、产成品）
二、企业资产负债分析
（企业资产、固定资产、流动资产合计、流动资产年平均余额、负债合计、流动负债合计、长期负债合计、应收帐款）
三、企业经营费用分析
（营业费用、管理费用、其中：税金、财务费用、利税总额）
四、企业收入及利润分析
（主营业务收入、主营业务成本、主营业务税金及附加、其他业务收入、其他业务利润、营业利润、利润总额）
五、企业营业外支出分析
（广告费、研究开发费、劳动、失业保险费、养老保险和医疗保险费、住房公积金和住房补贴、应付工资总额、应付福利费总额、应交增值税、进项税额、销项税额）
六、企业工业中间投入及现金流分析
（工业中间投入合计、直接材料投入、加工费用中的中间投入、管理费用中的中间投入、营业费用中的中间投入、经营活动产生的现金流入、流出、投资活动产生的现金流入、流出、筹资活动产生的现金流入、流出）
第十章2009年我国通用集成电路测试系统产业市场营销及投资分析
第一节本产业市场营销策略分析及建议
一、产业市场营销策略分析
二、企业营销策略发展及建议
第二节本产业市场投资环境分析及建议
一、投资环境分析
二、投资风险分析
三、投资发展建议
第三节本产业市场企业经营发展分析及建议
一、产业市场企业发展现状及存在问题
二、产业市场企业应对策略
第十一章2010-2013年我国通用集成电路测试系统产业市场发展趋势分析
第一节未来本产业市场发展趋势分析（产业市场发展趋势、技术发展趋势、市场发展趋势……）
一、未来发展分析
二、未来技术开发方向
三、总体产业市场“十一五”整体规划及预测
第二节2010-2013年本产业市场运行状况预测（工业总产值、销售收入、利润总额、总资产）
一、2010-2013年工业总产值预测
二、2010-2013年销售收入预测
三、2010-2013年利润总额预测
集成测试范文第7篇
一、集成门电路的测试
集成门电路静态测试，一般采用模拟开关输入模拟高、低电平，用发光二极管显示方式或万用表、逻辑测试笔测试输出的高、低电平，看其是否满足门电路的真值表。动态测试时，各输入端接入规定的脉冲信号，用双踪示波器直接观察输入、输出波形，并画出这些脉冲信号时序关系图，看输入输出是否符合规定的逻辑关系。
1.CMOS门电路的测试
以CC4012为例进行分析。CC4012是双四输入与非门，两个四输入端的与非门制造在同一器件内。14脚接电源VDD，7脚接地。2、3、4、5为一个与非门的输入端，1为输出端；9、10、11、12为另一与非门输入端，13为输出端。测试时，测试电路应正确连接，以免损坏器件或引起逻辑关系混乱，测试结果不正确。CMOS与门和与非门的多余的输入端不允许悬空，应接+VDD，电源电压不能接反，输出端不允许直接连接+VDD或地，除三态门外不允许两个输出端并联使用。测试时应先加电源电压+VDD，后加输入信号。关机时应先切断输入信号，后断开电源+VDD。若用测试仪器测试，所有测试仪器外壳必须良好接地，若需焊接时，应切断电源电压+VDD，电烙铁外壳必须良好接地，必要时拔下烙铁，利用余热进行焊接。
测试时，将四个模拟开关接四输入端，按不同的组合模拟输入“0”、“1”电平。输出端接发光二极管，它的阳极通过电阻接+VDD，阴极接输出端。输出为“1”时，发光二极管不亮，输出为“0”时，发光二极管亮。若测试结果与其逻辑功能相符，说明被测器件正常。
CMOS或门、或非门使用时，除多余输入端应接地(低电平)外，其余同与非门相同。
2.TTL门电路测试
测试方法与CMOS门电路基本相同，在实际应用中，TTL器件的高速切换，将产生电流跳变，其幅度为4～5mA，该电流在公共地线上的压降会引起噪声干扰，所以要尽量缩短地线。可在电源输入端与地间并接1个100μF电解电容作低频去耦，并接一个0.01-0.1μF电容作高频去耦。
3.集电极开路门电路(OC门)与三态门(TSL门)测试
（1）OC门测试
OC门测试前，应先接好上拉电阻RC，测试方法与非门测试方法相同。
（2）三态门TSL的逻辑功能测试
三态门除正常数据输入端外，还有一个控制端EN，也称使能端。对于控制端高电平有效三态门，当控制端为高电平时，TSL与普遍与非门无异，当控制端为低电平时，即“禁态”时，输出端对电源正、负极均呈高阻抗。还有一种控制端低电平有效电路，即控制端为低电平时，TSL逻辑功能与普遍与非门相同；为高电平时，输出端呈高阻抗。
测试方法和与非门基本相同，在输入端与使能端分别接模拟开关，输出端接发光二极管。当使能端为有效电平时测出输入输出逻辑关系；当使能端为“禁态”时，测输出端是否呈高阻抗。
二、组合逻辑电路的测试
组合逻辑电路的功能，由真值表可完全表示出来，测试工作就是验证电路的功能是否符合真值表。
1.组合逻辑电路静态测试
（1）将电路的输入端分别接到逻辑电平开关，注意按真值表中输入信号高低位顺序排列。
（2）将电路的输入端和输出端分别连至“0-1”电平显示器，分别显示电路的输入状态和输出状态。注意输入信号的显示也按真值表中高、低位的排列顺序，不要颠倒。
（3）根据真值表，用逻辑电平开关给出所有状态组合，观察输出端电平显示是否满足所规定的逻辑功能。
对于数码显示译码器可在上述测试电路基础上加接数字显示器加以测试。在数码显示译码器输入端输入规定信号，显示器上应按真值表显示规定数码。
2.组合逻辑电路的动态测试
动态测试是根据要求，在组合逻辑电路输入端分别输入合适信号，用脉冲示波器测试电路的输出响应。输入信号可由脉冲信号发生器或脉冲序列发生器产生。测试时，用脉冲示波器观察输出信号是否跟得上输入信号变化，输出波形是否稳定并且是否符合输入输出逻辑关系。
3.译码显示电路测试
译码显示电路首先测试数码管各笔段工作是否正常。如共阴极LED显示器，可将阴极接地，再将各笔段通过1kΩ电阻接电源正极+VDD，各笔段应发光。再在译码器的数据输入端依次输入0000～1001的数码，则显示器对应显示出0～9数字。
译码显示电路常见故障分析判断如下：
（1）数码显示器上某段总是“亮”而不灭，可能是译码器的输出信号幅度不正常或译码器工作不正常。
（2）数码显示器上某段总是不“亮”，可能是数码管或译码器连接不正确或接触不良。
（3）数码显示器字符模糊，且不随输入信号变化而变化，可能是译码器的电源电压偏低或电路连线不正确或接触不良。
三、时序逻辑电路测试
时序逻辑电路的特点是任意时刻的输出不仅取决于该时刻输入逻辑变量的状态，而且还和电路原来状态有关，具有记忆功能。其构成有两类：一类是由触发器或由触发器和门电路组成；另一类由中规模集成电路构成，如各类计数器、移位寄存器等。
1.集成触发器的测试
集成触发器是组成时序电路的主要器件。静态测试主要测试触发器的复位、置位、翻转功能。动态测试是触发器在时钟脉冲作用下测试触发器的计数功能，用示波器观测电路各处波形的变化情况，并根据波形测定输出、输入信号之间的分频关系、输出脉冲上升和下降时间、触发灵敏度和抗干扰能力以及接入不同性质负载时对输出波形的影响。测试时，输入触发脉冲的宽度一般要大于数微秒，且脉冲的上升沿和下降沿要陡。
2.时序逻辑电路的静态测试
时序逻辑电路的静态测试主要测试电路的复位、置位功能。它的静态测试应称为“半动态测试”，因对时序逻辑电路逻辑功能测试时，必须有动态的时钟脉冲加入。输入信号既有电平信号，又有脉冲信号，所以称为“半动态测试”。测试步骤如下：
（1）把输入端分别接到逻辑电平开关上，输入信号由逻辑电平开关提供；把时钟脉冲输入端CP接到手动单次脉冲输出端，时钟脉冲由能消除抖动的手动单次脉冲发生器提供。
（2）把输入端、时钟脉冲CP端与输出端分别连接到逻辑电平显示器，连接时注意输出信号高、低位的排列顺序。
（3）测试时，依次按动逻辑电平开关和手动单次脉冲按钮，从显示器上观察输入、输出状态的变化和转换情况。若全部转换情况都符合状态转换表的规定，则该电路的逻辑功能符合要求。
3.时序逻辑电路的动态测试
时序逻辑电路动态测试是指在时钟脉冲的作用下，测试各输出端的状态是否满足功能表的要求，用示波器观察各输入、输出端的波形，并记录分析这些波形与时钟脉冲之间的关系。动态测试通常用示波器进行观测。若所有输入端都接入适当的脉冲信号，则称为“全动态测试”。而一般情况下，多数属于半动态测试，全动态与半动态测试的区别在于时钟脉冲改由连续时钟脉冲信号源提供，输出由示波器进行观测。工程实际中，一般均用全动态测试。
四、数字电路测试方法
数字电路多采用集成器件，在检查焊接电路无误后进行测试。通常测试步骤和方法是：
1.首先调好振荡电路部分，以便为整机提供标准的时钟信号。
2.调整控制电路部分，保证分频器、节拍发生器等控制信号电路能正常工作。
3.调整信号处理电路，如各种寄存器、计数器、累加器、编码、译码器等，首先应使各单元电路工作正常，再相互连接，使整体电路的逻辑功能符合设计要求。
4.调整输出电路、驱动电路以及各种执行机构，保证输出信号能推动执行机构正常工作。数字电路调试中，因为集成电路管脚密集，连线又多，要求各单元之间时序关系又严格，所以出现故障不易找出原因。应注意以下问题：
（1）注意检查容易产生故障的环节，掌握排除故障的方法。出现故障时，可以从简单部分逐级查找，逐步缩小故障点的范围，也可以对某些预知点的特性进行静态或动态测试，判断故障部位。
（2）应当十分注意各部分电路的时序关系。对各单元电路的输入和输出波形的时间关系要十分熟悉;也要注意掌握各单元之间的相互时间关系，应对照时序图，检查各点波形，并要弄清哪些是上升沿触发，哪些是下降沿触发，以及它和时钟信号的关系。
（3）注意时序逻辑电路的初始状态，检查能否自启动，应保证电路开机后顺利地进入正常工作状态。
集成测试范文第8篇
关键词：集成电路；测试；故障诊断；方法改进
引言
随着我国工业社会的不断发展，科技的不断进步，对于集成电路的改进也越来越频繁。以前一个小小的集成电路只能容纳十几个晶体管，但是随着集成电路在新技术的改进下，目前已经可以容纳数十万个晶体管，促进了集成电路的应用与普及范围，但同时，以前一个集成电路出现问题，只要检查十几个晶体管就能解决集成电路出现的故障，但是现在，对于一个集成电路十几万个晶体管，传统的集成电路故障测试与诊断方法难以满足需求，必须要对集成电路的测试与故障诊断方法进行改进，以满足工业发展的需求。
1 集成电路基本简介
集成电路（integrated circuit）是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“IC”表示。集成电路发明者为杰克・基尔比（基于锗（Ge）的集成电路）和罗伯特・诺伊思（基于硅（Si）的集成电路）。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。是20世纪50年代后期-60年展起来的一种新型半导体器件。
2 集成电路测试与诊断方法存在的问题
随着科技的不断进步，传统的集成电路测试与诊断方法的弊病也显露出来了，那么作者下面将主要总结目前集成电路测试与诊断方法存在的问题。
2.1 电压测量的逻辑诊断适用范围窄
从集成电路诞生的那一天起，基于集成电路故障检测的电压测量逻辑诊断方法就成为集成电路故障检测的专用方法，但是电压测量的逻辑诊断方法在目前数字化集成电路面前显得有些无能为力，基于电压测量的逻辑诊断方法不能有效的对集成电路的故障进行准确定位，还需要进行人工测量后才能得知出现故障的地方，延长了集成电路的维修时间，同时对于某些类型的故障，如开路故障、桥接故障、延时故障等，一些传统的基于逻辑值地测试方法就显得无能为力了。
2.2 对于电路的冗余部分不能检测出来
随着集成电路使用和普及范围越来越广，人们基本会在集成电路中增加一部分冗余电路，以保障集成电路的正常使用。冗余电路其实就是集成电路的备用电路，在目前集成电路设备中，都会有一部分的备用电路以备使用。但是冗余电路虽然能够提高集成电路的使用，避免集成电路出现故障时造成使用不便，但是这对于集成电路故障的诊断造成了一定影响，因为在集成电路出现故障时，冗余电路就会代替集成电路进行工作，并不会提醒人们集成电路出现故障，同时传统的基于电压的测试方法是无法检查冗余电路故障的。
2.3 集成电路的检测方法少
现阶段，对于集成电路测试与故障的检测方式主要有传统的基于电压的测试方法、以及基于数字模型的检测方法、故障字典法这几种，虽然对于集成电路的故障都能够进行检测，但是随着在集成电路技术的发展，故障也在发生变化，传统法的集成电路检测方法并不能适用于未来的集成电路故障检测，集成电路测试与故障检测方法比较少，同时创新能力也不够，延长了集成电路的维修时间。
3 集成电路测试与诊断方法的改进
3.1 基于静态电流故障的诊断方法
随着科技的进步，集成电路也在不断发展和更新，因此对于集成电路测试与故障诊断的方法也要有所改进，基于电流故障的诊断方法是目前比较流行的。集成电路中的电流一般比较小，通常不会超过500毫安，但是在集成电路出现故障时，电流量会急速增加，这对于集成电路的故障检测是比较明显的，并且基于电流故障的诊断方法也能测出电路的冗余部分是否出现故障，解决了逻辑电压检测方法的不足之处。
3.2 基于动态电流故障的诊断方法
虽然动态电流故障检测与静态电路故障检测同属于电流检测方法，但动态电流故障检测方法相比于静态电流故障检测要更加正确，因为动态电流覆盖集成电路的面积更广，集成电路的故障检测也更加全面，动态电流的波形包含的电路信息更多，为CMOS电路、模拟电路、数模混合电路的故障诊断提供了丰富的数据。
3.3 故障字典检测方法
故障字典检测方法是目前最常用的一种集成电路测试与故障检测方法，顾名思义，故障字典法就是采取像查阅字典一样的方式对集成电力的晶体管进行一一检测，来确定出现故障的准确位置，这样对于集成电路的故障检测更加准确，故障字典法就是先提取集成电路的所有故障特征，根据出现故障的特征查找集成电路出现的问题，用户只需要输入集成电路出现的问题，故障字典法就能第一时间知道集成电路出现的问题，大大提高了集成电路故障检测效率，集成电路的诊断更加智能化。
4 结束语
集成电路的测试与故障诊断技术的研究和应用对增强集成电路的可维护有很重要的意义，故障诊断可以在测试结果的基础上，分析故障产生的原因和位置，更加有利于提高国家的效率，也是集成电路设计的趋势之一。文章介绍了故障诊断的常见策略。基于电流的集成电路诊断方法将是今后研究和应用的热点。
参考文献
[1]于云华，石寅.数字集成电路故障测试策略和技术的研究进展[J].电路与系统学报，2014，9（3）：83-91.
[2]朱启建，邝继顺，张大方，一种用于动态电流测试的故障模拟算法[J].计算机工程与科学，2014（9）：12-14.
[3]冯建华，孙义和，系统芯片IDDQ可测试设计规则和方法[J].测试技术学报，2013（12）.
[4]张新林，CMOS电路内结点桥接故障的动态IDDQ可测性研究[J].宝鸡文理学院学报（自然科学版），2015（6）.
集成测试范文第9篇
【关键词】集成电路； 生产； 测试； 技术
集成电路测试贯穿在集成电路设计、芯片生产、封装以及集成电路应用的全过程，因此，测试在集成电路生产成本中占有很大比例。而在测试过程中，测试向量的生成又是最主要和最复杂的部分，且对测试效率的要求也越来越高，这就要求有性能良好的测试系统和高效的测试算法。
一、数字集成电路测试的基本概念
根据有关数字电路的测试技术，由于系统结构取决于数字逻辑系统结构和数字电路的模型，因此测试输入信号和观察设备必须根据被测试系统来决定。我们将数字电路的可测性定义如下：对于数字电路系统，如果每一个输出的完备信号都具有逻辑结构唯一的代表性，输出完备信号集合具有逻辑结构覆盖性，则说系统具有可测性。
二、数字集成电路测试的特点
（一）数字电路测试的可控性 系统的可靠性需要每一个完备输入信号，都会有一个完备输出信号相对性。也就是说，只要给定一个完备信号作为输入，就可以预知系统在此信号激励下的响应。换句话说，对于可控性数字电路，系统的行为完全可以通过输入进行控制。从数字逻辑系统的分析理论可以看出，具有可控性的数字电路，由于输入与输出完备信号之间存在一一映射关系，因此可以根据完备信号的对应关系得到相应的逻辑。
（二）数字电路测试的可测性 数字电路的设计，是要实现相应数字逻辑系统的逻辑行为功能，为了证明数字电路的逻辑要求，就必须对数字电路进行相应的测试，通过测试结果来证明设计结果的正确性。如果一个系统在设计上属于优秀，从理论上完成了对应数字逻辑系统的实现，但却无法用实验结果证明证实，则这个设计是失败的。因此，测试对于系统设计来说是十分重要的。从另一个角度来说，测试就是指数字系统的状态和逻辑行为能否被观察到，同时，所有的测试结果必须能与数字电路的逻辑结构相对应。也就是说，测试的结果必须具有逻辑结构代表性和逻辑结构覆盖性。
三、数字电路测验的作用
与其它任何产品一样，数字电路产出来以后要进行测试，以便确认数字电路是否满足要求。数字电路测试至少有以下三个方面的作用：
（一）设计验证 今天数字电路的规模已经很大，无论是从经济的角度，还是从时间的角度，都不允许我们在一个芯片制造出来之后，才用现场试验的方法对这个“样机”进行测试，而必须是在计算机上用测试的方法对设计进行验证，这样既省钱，又省力。
（二）产品检验 数字电路生产中的每一个环节都可能出现错误，最终导致数字电路不合格。因此，在数字电路生产的全过程中均需要测试。产品只有经过严格的测试后才能出厂。组装厂家对于买进来的各种数字电路或其它元件，在它们被装入系统之前也经常进行测试。
（三）运行维护 为了保证运行中的系统能可靠地工作，必须定期或不定期地进行维护。而维护之前首先要进行测试，看看是否存在故障。如果系统存在故障，则还需要进行故障定位，至少需要知道故障出现在那一块电路板上，以便进行维修或更换。
由此可以看出，数字电路测试贯穿在数字电路设计、制造及应用的全过程，被认为是数字电路产业中一个重要的组成部分。有人预计，到2016年，IC测试所需的费用将在设计、制造、封装和测试总费用中占80%-90%的比例。
四、数字电路测试方法概述
（一）验证测试 当一款新的芯片第一次被设计并生产出来时，首先要接受验证测试。在这一阶段，将会进行全面的功能测试和交流（AC）及直流（DC）参数测试。通过验证测试，可以诊断和修改设计错误，测量出芯片的各种电气参数，并开发出将在生产中使用的测试流程。
（二）生产测试 当数字电路的设计方案通过了验证测试，进入量产阶段之后，将利用前一阶段调试好的流程进行生产测试。生产测试的目的就是要明确地做出被测数字电路是否通过测试的决定。因为每块数字电路都要进行生产测试，所以降低测试成本是这一阶段的首要问题。因此，生产测试所使用的测试输入数（测试集）要尽可能的小，同时还必须有足够高的故障覆盖率。
（三）老化测试 每一块通过了生产测试的数字电路并不完全相同，其中有一些可能还有这样或那样的问题，只是我们暂时还没有发现，最典型的情况就是同一型号数字电路的使用寿命大不相同。老化测试为了保证产品的可靠性，通过调高供电电压、延长测试时间、提高运行环境温度等方式，将不合格的数字电路筛选出来。
（四）接受测试 当数字电路送到用户手中后，用户将进行再一次的测试。如系统集成商在组装系统之前，会对买回来的数字电路和其它各个部件进行测试。只有确认无误后，才能把它们装入系统。
五、数字电路测试的设计
统计数据表明，检测一个故障并排除它，所需要的代价若以芯片级为1的话，则电路板级为10，系统级为102，使用现场级为103。随着集成电路技术的快速发展，对集成电路的测试变得越来越困难。虽然对测试理论和方法的研究一直没有间断或停止，但还是远远不能满足集成电路发展的需求。过去先由设计人员根据功能、速度和电性能要求来设计电路，然后再由测试人员根据已设计好的电路制定测试方案，这种传统的做法已经不能适应实际生产的需求。
集成电路设计不仅要满足功能、速度和电性能等方面的要求，而且还要使得设计出来的集成电路容易测试，即要设法降低测试的难度。当集成电路被封装后，电路中的节点都是无法接触的。这些点上的故障是否可以测试以及测试的难易程度，决定于电路的原始输入是否可以控制这些点的逻辑值以及这些点的逻辑值能否容易地通过电路内部到达电路原始输出以便于观察。
集成测试范文第10篇
摘 要：谷氨酸棒杆菌作为棒杆菌中的模式生物，拥有多条完整的芳香化合物代谢途径，全基因组测序的完成为在谷氨酸棒杆菌中进行代谢调控研究提供了良好的生物信息学平台；该菌包括基因敲除及互补在内的遗传操作系统非常成熟，是研究芳香化合物代谢调控机制的良好模型。该研究旨在利用棒杆菌等模式生物中的莽草酸合成及芳香化合物代谢相关元件进行元件适配性研究，同时结合生物信息学、分子生物学及生物化学方法发掘其他微生物中这两类元件，并对元件进行表征、改造及标准化并建立元件库；选取高效能的功能元件拼接组装为功能模块，并在棒杆菌等底盘细胞中进行检测适配性，从而构建出高效合成以莽草酸为代表性芳香化合物的人工细胞。到目前为止，研究工作完成了谷氨酸棒杆菌莽草酸合成途径酶元件的鉴定，重点完成了谷棒DAHP合酶和分支酸异构酶功能表征及元件间适配性关系，获得大量潜在的莽草酸合成相关代谢元件；并对部分代谢元件进行功能验证和表征；同时建立高效蛋白表达及酶活测定体系。鉴定了谷棒莽草酸途径的7个酶以及分支酸异构酶，完成了谷棒DAHP合酶、分支酸异构酶、脱氢奎尼酸脱水酶以及莽草酸激酶功能表征，揭示了DAHP合酶和分支酸异构酶相互作用机理和调控关系。获得了3 549个莽草酸途径相关基因序列，确定了516个合成目标基因，完成了这些基因密码子优化和基因序列重新设计，选取了37个脱氢奎尼酸脱水酶基因人工合成，构建标准元件库，并表征了它们的酶促动力学参数。构建并验证了快速高通量的筛选―优化―合成―表征莽草酸途径元件库的Pipeline。另外在调控元件库构建方面，构建了包括RBS、Promoter、Terminator以及Insulator等4共226个元件的调控元件库，为莽草酸通路模块的优化和精细调控的奠定了基础。 模块的组装和优化方面，构建了基于RiboJ Insulator的基因表达定量调控模型，合成了莽草酸本地途径酶元件和调控元件元件进行模块组装，并在底盘细胞谷氨酸棒杆菌中实现了表达，对最优配比进行了初步筛选，将莽草酸产量提高了7倍。
关键词：莽草酸 莽草酸途径 谷氨酸棒杆菌 合成生物学 元件库
Abstract： Corynebacterium glutamicum as a type strain has a number of complete metabolic pathways of aromatic compounds. The completion of whole genome sequencing provides a good bioinformatic platform for metabolic and regulatory study of cells. Besides， the genetic manipulation systems （including knockout and complementary systems） are very mature， which makes this strain a perfect model to study the metabolic and regulatory mechanisms of aromatic compounds.With techniques of bioinformatics， molecular biology and biochemistry， more devices with similar functions are explored from all other microorganisms. And device libraries are subsequently established after characterization， modification and standardization of these devices. High-performance functional devices are selected to assemble modules which are then transferred into chassis cells for suitability test. After optimization of the suitability， artificially synthesized cell can provide a much more efficient synthesis of shikimic acid -a representation of aromatic compounds- than the wild type strain do. So for， all enzymatic devices involved in shikimic acid synthetic pathway have been identified， and a lot of potential function devices that may related to shikimic acid synthesis have been achieved. In total， 3549 gene sequences that are relative to shikimate pathway are identified and 516 of them are verified to be target genes for shikimic acid synthesis. After codon optimization and sequence redesign， 37 dehydrogenation quinic acid dehydratase genes are selected to be synthesis chemically， and these synthetic devices are used for characterization of their enzymatic kinetic parameters. By then， a highly efficient pipeline for construction of device library with a high-throughput “Screening―Optimization―Synthesis―Characterization” process is built. In terms of regulatory devices， a library is constructed with 226 regulatory devices， including RBS， Promoter， Terminator and Insulator.， which provide a steady foundation for optimization and accurate regulation of shikimic acid pathway modules. Based on a quantitative model named RiboJ Insulator for regulation of gene expression， the local enzymes in shikimic acid pathway are assembled with regulatory devices from the previous library in chassis cells Corynebacterium glutamicum. And the production of shikimic acid is increased by 7 times comparing with the wild type ones.
Key Words： Shikimic acid； Shikimic acid pathway； Corynebacterium glutamicum； Synthetic biology； Device library
阅读全文链接（需实名注册）：http：///xiangxiBG.aspx？id=50689&flag=1