纳米材料的扫描透射电子显微术成像和分析的基础知识

时间:2022-09-02 11:25:43

纳米材料的扫描透射电子显微术成像和分析的基础知识

扫描透射电子显微分析技术是在透射电子微观领域最有效的成像技术。它是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方法。它在表征包括有机材料和生物材料的纳米尺度材料方面引起了极大的关注,并开始被广泛应用。扫描透射电子显微分析技术发展迅速,在不远的将来将成为透射电子显微技术的主要技术。本书是一本先进的扫描透射电子显微分析技术的教科书。

本书全部内容共分为14章:1.简介,主要介绍了电子显微探针的需求、比较不同类型的显微技术、扫描隧道显微技术的优势和其可能的应用领域;2.扫描透射电子显微仪器发展历程综述,本章图文并茂地介绍了从1932年第一台电子显微镜研制成功到其不断完善,最后成为研究工作中极为重要的手段的发展历程;后面各章共分为3部分,第1部分 扫描透射电子显微分析技术基本知识,含第3-4章:3.扫描透射电子显微分析技术的基本知识,本章作者阐述了扫描透射电子显微镜的基本设计和扫描式电子显微镜的成像原理等知识,同时对扫描式电子显微镜的先进技术做了简要介绍;4.扫描透射电子显微分析技术在纳米材料和生物样品方面的应用,主要对原子级分辨率的扫描式电子显微镜在纳米和生物样品中的应用做了详细描述。第2部分 扫描透射电子显微分析技术成像理论,含第5-8章:5.高角环形暗场像-扫描透射电子像理论和成像模拟;6.环形明场扫描透射电子显微成像技术理论,5、6章主要介绍了扫描透射电子显微技术基于衍射动力学理论的成像原理和环形明场理论近期的发展;7.扫描透射电子显微技术中的电子能量损失谱及其成像,尤其是使用非弹性散射的高空间分辨率成像;8.用密度泛函理论计算子在扫描电子显微镜中获得的电子能量损失近边结构数据以及对一些实际材料的应用。第3部分 扫描透射电子显微分析技术成像的高级技术,含第9-14章:9.像差校正扫描透射电子显微技术;10.扫描透射电子显微技术中的二次电子像,主要介绍了一种最新报道的基于二次电子新的扫描透射电子显微技术的成像形式;11.共聚焦扫描电子显微技术,成像理论及其最新实验进展;12.扫描电子显微分析技术中电子断层成像技术的基本原理及其在无机材料中的应用;13.扫描透射电子显微分析技术中的电子全息术和洛伦兹电子显微技术;14.扫描透射电子显微分析技术的最新热点和未来期望,主要回顾了扫描透射电子显微分析技术的研究现状,如使用EDX进行元素分析、成像理论的完善等,并以作者的视角简要的讨论了其发展前景。

虽然本书不同章节是由不同的相关领域研究者分别撰写,但本书的编辑已经把物理符号和内容合理的编排与调整。本书编辑希望最后呈现的是一本为介于专业和初学者中间的人准备的一本关于电子显微镜学方面的专著。本书旨在为本科生、研究生和早期的研究人员描述和解释扫描透射电子显微分析技术的基本知识。为了达到这个目的,本书使用了大量的数学公式描述在扫描透射电子显微技术和样品中的物理现象。同时对于在理论中的数学有疑问的读者,许多样品很好地解释了相关的理论。

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