电子产品可靠性与环境试验

时间:2022-07-26 01:47:09

电子产品可靠性与环境试验

1.无线基站系统可靠性新模型探讨尤荣贤,张洁明,YOURou-xian,ZHANGJie-ming

2.信息动态

3.一种组网雷达的抗干扰效能评估方法杨作宾,王宗帅,程伟宏,左晓勇,YANGZuo-bin,WANGZong-shuai,CHENGWei-hong,ZUOXiao-yong

4.正弦扫描试验中分段扫描方法探讨郑志国,张元铜,ZHENGZhi-guo,ZHANGYuan-tong

5.贝叶斯网络在电子产品可靠性分析中的应用杨其国,YANGQi-guo

6.密封封装内部水汽含量判据研究电子产品可靠性与环境试验 杨晨,张素娟,YANGChen,ZHANGSu-juan

7.航天用DC/DC电源模块结构分析研究龚欣,GONGXin

8.基于知识推理的雷达装备故障预测专家系统徐凤建,车建国,许荣,XUFeng-jian,CHEJian-guo,XURong

9.基于MATLAB和VC++实现可靠性试验原始数据处理系统张国龙,梁玉英,巴宁,ZHANGGuo-long,LIANGYu-ying,BANing

10.部分气候防护场所产品可靠性试验周期研究刘颖,张馨予,时钟,伍昆仑,LIUYing,ZHANgXin-yu,SHIZhong,WUKun-lun

11.电子产品的传导骚扰抑制对策郑庆川,朱文立,ZHENGQing-chuan,ZHUWen-li

12.嵌入式软硬件系统的可靠性设计张明,刘志宏,方伟奇,ZHANGMing,LIUZhi-hong,FANGWei-qi

13.装备软件的质量管理研究彭瑾,史朝龙,郭桂友,PENGJin,SHIChao-long,GUOGui-you

14.以可靠性为中心的维修技术工程应用探讨李颖,黄进永,LIYing,HUANGJin-yong

1.军用直升机使用可用度仿真研究王进才,WANGJin-cai

2.信息动态

3.基于加速环境的可靠性指标验证试验王剑,翁雷,张慧,WANGJian,WENGLei,ZHANGHui

4.典型的气候环境对涂层材料性能的影响对比闫杰,邱森宝,YANJie,QIUSen-bao

5.高原环境对电工电子产品的影响及防护孙立军,蔡汝山,SUNLi-jun,CAIRu-shan

6.不同的退化模式共存时产品退化失效分析孙中泉,赵建印,SUNZhong-quan,ZHAOJian-yin

7.系统部件对冲击载荷的响应分析施广宏,石成英,韩华锋,SHIGuang-hong,SHICheng-ying,HANHua-feng

8.武器系统效能度量理论研究吴启波,叶方超,万学军,WUQi-bo,YEFang-chao,WANXue-jun

9.电子元器件的选用、管理与控制林长苓,靳宝善,LINChang-ling,JINBao-shan

10.提高电路中元器件的使用可靠性陈龙云,陈凤云,CHENLong-yun,CHENFeng-yun

11.EWB在电子电路设计与仿真中的应用魏选平,齐世举,姚敏立,张周生,WEIXuan-ping,QIShi-ju,YAOMin-li,ZHANGZhou-sheng

12.网上调查统计系统的设计与实现刘少卿,何铤,薛保民,LIUShao-qing,HETing,XUEBao-min

13.FRACAS系统的管理与应用探讨周虹,ZHOUHong

14.电子产品的电磁兼容性设计与实用经验王宇翔,WANGYu-xiang

15.生产线用安规测试仪器的运行检查易春,朱文立,YIChun,ZHUWen-li

16.ICP-AES的工作原理与维护保养王海燕,WANGHai-yan

1.新型战备完好率模型丁定浩,陆军,王斌,DINGDing-hao,LUJun,WANGBin

2.英特尔将推32nm服务器芯片性能提高15倍

3.模糊可靠性基础理论研究张立民,孙永威,ZHANGLi-min,SUNYong-wei

4.分布函数的迫近及其在高可靠性评估中的应用宫二玲,张金槐,谢红卫,GONGEr-ling,ZHANGJin-huai,XIEHong-wei

5.7个正在发生的移动互联网趋势

6.基于改进型模糊层次法的维修性综合评估研究刘福成,尚朝轩,LIUFu-cheng,SHANGChao-xuan

7.信息与动态

8.基于消耗数据的备件储备标准研究彭立影,郑德林,PENGLi-ying,ZhengDe-lin

9.某火控系统备件需求计算方法研究王宗帅,杨作宾,左小勇,WANGZong-shuai,YANGZuo-bin,ZUOXiao-yong

10.电子产品可靠性与环境试验 CMOS集成电路静态功耗电流测试的重要性研究宁永成,NINGYong-cheng

11.某计算机模块振动过应力后的分析方法丁力,尉明,DINGLi,WEIMing

12.提高燃料电池测试设备抗EMI能力的应用研究张焕文,杜祺漳,梁柱扬,何炳林,ZHANGHuan-wen,DUQi-zhang,LIANGZhu-yang,HEBing-lin

13.闪烁测量仪的性能要求与校验方法吴洁,WUJie

14.军工网络安全模拟仿真系统可信度研究武志锋,王冬海,WUZhi-feng,WANGDong-hai

15.武器装备中电子插件板的环境适应性设计研究姜广顺,杨召甫,JIANGGuang-shun,YANGZhao-fu

16.论ISMS中的有效性测量——基于ISO/IEC27004:2009的ISMS有效性测量浅析李尧,LIYao

17.高温老化厌氧箱傅钊,FUZhao

18.一种前馈控制补偿器的设计方法万建华,WANGJian-hua

19.2009年10月~11月颁布的部分电气与电子类IEC标准蔡日梅

1.直升机机载综显模块电路板可靠性预计王进才,WANGJin-cai

2.MIL-STD-810F低温试验方法研究林琳,张熙川,叶涛,LINLin,ZHANGXi-chuan,YETao

3.朝鲜自主研发的操作系统最擅长监控网络安全

4.集成电路低温特性的推断宁永成,NINGYong-cheng

5.科尔康公司的TxgardIS+本安型气体探头通过UL认证

6.GB/T5170环境试验设备检验方法新旧版本的比较分析杨明涛,YANGMing-tao

7.中国企业移动信息化应用概况

8.温度湿度对产品的影响分析傅钊,FUZhao

9.魏德米勒公司推出一种创新型印刷电路板接插件

10.基于灰色系统理论与Bootstrap方法环境因子的确定王小林,郭弛名,程志君,郭波,WANG-Xiao-lin,GUO-Chi-ming,CHENG-Zhi-jan,GUO-Bo

11.我国具有自主知识产权的千万亿次计算机有望于2011年推出

12.HALT在引信寿命评估方面的应用刘加凯,齐杏林,徐敬青,范志锋,LIUJia-kai,QIXing-lin,XUJing-qing,FANZhi-feng

13.OVUM评论分析移动宽带将会在2014年成为中国宽带市场的主流

14.振动对尘土进入手机影响的非线性回归分析田瑞利,许良军,王东,TIANRui-li,XULiang-jun,WANGDang

15.我国将采取四大措施推动物联网产业发展HtTp://

16.基于紧缩系统的可靠性验证试验方法探讨许彦鑫,陆培永,XUYan-xin,LUPei-yong

17.美国Fiberguide公司的多模光纤保证高功率激光的可靠传输

18.电子设备可靠性评估方法应用研究电子产品可靠性与环境试验 蔡骏,CAIJun

19.RFID系统测试标准体系研究李鹰,李倩,朱建红,李金华,郑庆川,LIYing,LIQian,ZHUJian-hong,LIJin-hua,ZHENGQing-chuan

20.工信部成立通信网络安全专业委员会

21.美国国防部采办可靠性新举措蔡少英,CAIShao-ying

22.美参议院商务委员会通过《网络安全法案》

23.基于战备完好性的初始备件供应保障Monte-Carlo仿真魏勇,徐廷学,WEIYong,XUTing-Xue

24.德国超级计算机成功模拟42位量子计算机

25.一种高速采集卡在环境模拟试验设备中的应用万建华,WANGJian-hua

26.移动电话的ESD测试要求及防护设计陈辉,CHENHui

27.中国网络电视台获得首张互联网电视牌照

28.2009年8月~10月颁布的部分电气与电子类IEC标准蔡日梅

1.水汽或结构对塑封电子器件可靠性的影响研究张延赤,ZHANGYan-chi

2.美刊评十大亟需重大升级的科技品:IE居首

3.生产线可靠性、维修性和保障性指标研究姚伟,YAOWei

4.基于HALT的测试性验证方法研究王道震,邵家骏,王晓峰,WANGDao-zhen,SHAOJia-jun,WANGXiao-feng

5.可靠性强化试验理论分析及其在引信中的应用刘加凯,齐杏林,贺连梁,李宁,LIUJia-kai,QIXing-lin,HELian-liang,LINing

6.未来战争是杀人不见血的电子战

7.Weibull分布下的系统可靠性评估方法研究朱寿雷,彭绍雄,董蒙,ZHUShou-lei,PENGShao-xiong,DONGMeng

8.我国科学家在量子计算研究中获重大突破

9.高过载下军用电容的参数变化研究及失效分析何荣华,张亚,李波,黄运銮,郭攀,HERong-hua,ZHANGYa,LIBo,HUANGYun-luan,GUOPan

10.晶振器件电路部分的失效分析研究田永盛,杜良桢,TIANYong-sheng,DULiang-zhen

11.第七届电子产品环境防护技术研讨会征文通知

12.基于电压应力的加速试验设计张芳,蔡金燕,ZHANGFang,CAIJin-yan

13.电子镇流器设计与制作的关键问题及优化措施伍伟杰,贺雄文,WUWei-jie,HEXiong-wen

14.EFT干扰对发射机稳定性的影响王耕,谢宇,WANGGeng,XIEYu

15.基于RMS的机群系统任务效能仿真王斌,王亮亮,周晓龙,WANGBin,WANGLiang-liang,ZHOUXiao-long

16.两院院士评选2009年中外十大科技进展新闻

17.软件缺陷检查单的动态生成方法陈平,黄茂生,CHENPing,HUANGMao-Sheng

18.数显卡尺检定问题的解决易军,YIJun

19.无线电干扰问题调查:飞机上能否使用手机?

20.测色计的原理及应用黄蓓,HUANGBei

21.2009年6月~8月颁布的部分电气与电子类IEC标准

1.RecentDevelopmentinReliabilityPhysicsandFailureAnalysisGuang-boGao,Guang-boGao

2.FIB的工作原理及其应用章晓文,林晓玲,陈嫒

3.芯片剥层技术在集成电路失效分析中的应用陈媛,李少平

4.提高能谱仪定量分析准确度的探讨施明哲,张惠,朱惠姬

5.氦质谱细检漏国军标的修改方案王庚林,王彩义,王莉研,董立军,李飞

6.电子元器件的失效模型与可靠性试验方法浅析王志刚,戴柏林,张必超

7.加速寿命试验中修正阿伦尼斯加速因子的研究李进,李传日,LiJin,LiChuan-ri

8.基于概率选择模型的多失效模式可靠性建模分析易帆帆,张春华,汪亚顺

9.电子元器件快速评价新方法的应用研究李志国,郭春生,吕长志

10.表贴元器件常见的失效模式及机理分析范士海

11.航天产品长期贮存失效分析研究齐俊臣,李新俊,朱三可,彭道勇,李祥臣

12.国产半导体器件长期贮存试验研究高兆丰,高金环,徐立生

13.国产晶体管的长期贮存可靠性吕长志,张小玲,谢雪松,程尧海,王东凤,李志国

14.用加速试验评估器件长期贮存寿命的研究张小玲,谢雪松,吕长志,李志国,ZHANGXiao-ling,XIEXue-song,LvChang-zhi,LIZhi-guo

15.高可靠应用的塑封微电路升级筛选和鉴定的探讨杨少华,来萍

16.电子产品可靠性与环境试验 GaAs器件寿命试验及其方法比较崔晓英

17.多芯片组件(MCM)可靠性技术探讨王艳芝,贾颖

18.NPN双极晶体管的ELDRS效应及退火行为陆妩,任迪远,郑玉展,王义元,郭旗,余学峰,何承发

19.PCBA异常爆板失效案例的研究罗道军,,LuoDaoJun,WangYang

20.黑焊盘有关问题探讨及失效案例分析马丽利

21.印制电路板行业环保压力解读董玲玲,DongLingling

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