根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发现率比较

【摘 要】目的：比较根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发现率。方法：选取我院口腔科于2009年12月-2012年12月间拔除的106颗离体上颌第一磨牙作为研究对象，随机分为S组与D组，每组各53颗。S组采用改良开髓口，根管显微镜下探查寻找MB2，计算和统计发现率；D组则将53颗牙制成透明标本，观察近颊根的解剖形态，并通过根管显微镜查找MB2，计算和统计发现率，对两组试验的发现率进行分析比较。结果：在改良开髓口根管显微镜条件下，S组中共计在42颗牙下发现MB2，S组的发现率为79.25%，D组中共计在45颗牙下发现MB2，D组的发现率为84.91%，两组比较差异无统计学意义（P>0.05）。结论：使用根管显微镜MB2的发现率与实际发生率相接近。

【关键词】根管显微镜；离体上颌；第一磨牙；第二根管；发现率

【中图分类号】R781 【文献标识码】A 【文章编号】1004―7484（2013）10―0071―01

由于我们日常饮食及生活习惯的改变等原因，牙科患者也越来越多。牙病的原因又主要以根管问题居多。在临床治疗的时候往往要对根管系统进行彻底的清理和严密的充填，这也是在根管的临床治疗中最关键的部分。如果没有清理干净，残留了变异牙根或根管就可能引起残髓炎或根尖周病变不愈合，治疗结果自然也达不到预期的目标，甚至会加重病情。在上颌的所有牙齿中，第一磨牙属于萌出较早的类型，因此在治疗的过程中往往无法避开对该牙的诊治，而由于该牙的结构特殊性使得治疗更具困难[1]，据有关统计资料显示，在口腔内所有牙齿的治疗中，第一磨牙的治疗成功率相对很低。在对第一磨牙的治疗中又主要是对第二根管的诊治。这也是临床治疗中造成第一磨牙诊治失败的主要原因。为了进一步比较根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发现率，本文选取我院口腔科于2009年12月-2012年12月间拔除的106颗离体上颌第一磨牙进行分组试验，现报道如下。

1 一般资料与方法

1.1 一般资料

选取我院口腔科于2009年12月-2012年12月间拔除的125颗离体上颌第一磨牙，所有牙齿均浸泡在百分之十的福尔马林液中，从中挑选出发育良好、无病变发生和治疗、无大面积缺损或填充的牙齿共计106颗。采用超声波技术将牙齿表明的结石和肉芽组织全部去除备用。

1.2 方法

将106颗牙随机分为S组和D组，每组53颗，S组采用改良开髓口，根管显微镜下探查寻找MB2。具体步骤如下：先将牙放置在仿真头颅上，在显微镜下按改良开髓口揭顶，然后将髓腔内容物去除干净，用浓度为百分之五点二五的次氯酸钾进一步清洗，将暴露出的多余牙本质去除干净，利用牙髓探针将近颊主根管找出来，然后再顺着近颊主根管找到MB2，多次反复操作，确认MB2存在；D组则将53颗牙制成透明标本，主要是通过髓腔染色、脱钙、梯度脱水和透明处理等技术，然后利用显微镜对近颊根的解剖形态进行观察，将根管的数目详细的记录下来，并进行分类统计。比如根管形态为1-1则记录为单根管，这种类型的根管中没有MB2，根管形态还包括1-2型、1-2-1型、2-1型、2-1-2型和2-2型，这几种类型则记录为双根管，也即是存在MB2，以此来通过根管显微镜查找MB2，计算和统计发现率[2]，两组操作均为同一资深医师，对两组试验的发现率进行分析比较。

1.3数据处理

将本次统计调查的实验数据均录入SPSS17.0软件包进行统计学分析，利用X?检验，对两组研究的MB2发现率的差异进行统计分析和比较，以P

2 结果

在改良开髓口根管显微镜条件下，S组中共计在42颗牙下发现MB2，S组的发现率为79.25%，D组中共计在45颗牙下发现MB2，D组的发现率为84.91%，两组比较差异无统计学意义（P>0.05）。

3 讨论

改良开髓口与根管显微镜结合是随着科学技术水平和医疗技术水平的提高而发明的一种新型MB2探查方式，该方式的应用大大提高了MB2的发现率。而也有一些研究者提出应用根管显微镜对MB2的发现率与真实发现率存在着差异。本研究主要对改良开髓口和透明牙标本两种方式来对比MB2的发现率，结果表明两者无显著差异，也就是说应用根管显微镜对于发现MB2具有很高的可靠性和准确性。可以将其作为探查MB2的手段，并能够大大提高MB2的发现率，避免漏诊发生[3]。

这主要得益于显微镜技术，显微镜可以将局部位置放大，并能够提供非常充足的光源，使医师能够更加清楚的看清根管的内部结构、病变情况等等，从而为治疗方案的制定及手术准备提供依据。这种方式有效的避免的传统的靠感觉和经验来治疗，大大提高治疗的可靠性，从而提高了治疗的疗效。另外，通过显微镜还可以将连接所有根管口的窄沟一髓底图清晰的显示出来，这样就可以进一步发现那些肉眼难以辨认的细小根管，再结合着细小探针等工具，可以将根管之间的钙化物清楚干净，使MB2的定位更加准确 [4]。

总而言之，应用根管显微镜有效的提高了离体上颌第一磨牙中MB2的发现率，相比于传统的检测方式具有更高的可靠性和有效性，但并不是说它能够发现所有的MB2。临床资料表明，根管显微镜也并不能发现所有的MB2，这主要是由于根管内部的复杂结构，有一些MB2生长较深，要发现它们则需要进一步磨除部分根管口周围的牙本质，甚至还需要深入到根管内一定深度才能将MB2探查出来。这也是本次研究中应用根管显微镜探查MB2结果偏低的主要原因。

参考文献：

[1] 赵玉梅，徐欣，孙静，强艳丽，亓庆国.上颌第二恒磨牙近中颊根第二根管的离体牙研究[J].华西口腔医学杂志，2009，05：509-511+515.

[2] 朱斌，刘正彤，陈金林，张利平.改良开髓洞形应用于寻找上颌第一磨牙近中颊根第二根管的研究[J].广东牙病防治，2009，12：574-576.

[3] 陈燕，方萍，唐继伟，韦艺，罗菊芬.改良髓腔入口对上颌第一、二磨牙近中颊根第二根管临床发现率的影响[J].中国美容医学，2012，15：2024-2026.

[4] 高晓蔚，吴佩玲.牙科手术显微镜用于检出离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的实验研究[J].新疆医科大学学报，2010，04：391-393.