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Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems

微纳光刻技术杂志

预计审稿周期:较慢,6-12周

Journal Of Micro-nanolithography Mems And MoemsSCIESCI

J MICRO-NANOLITH MEM

大类学科:物理与天体物理  小类学科:工程电子与电气

基本信息:
ISSN:1932-5150
E-ISSN:1932-5134
是否预警:否
是否OA:未开放
出版信息:
出版年份:2007
出版地区:UNITED STATES
出版周期:Quarterly
出版语言:English
出版商:SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
评价信息:
中科院分区:3区
JCR分区:Q3
文章自引率:
CiteScore:2.9
H-index:37

期刊介绍Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems期刊介绍

该期刊是一本由SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS出版的学术刊物,主要报道物理与天体物理:工程电子与电气相关领域研究成果与实践。该期刊的创办有利于加强物理与天体物理:工程电子与电气研究领域的学术交流,本刊将及时推出该领域的科研成果,使国际同行能及时、方便地查阅、引用,提高该研究领域工作者文献阅读水平,为物理与天体物理:工程电子与电气研究事业的发展作贡献。国内外衡量期刊水准的尺度之一,是其论文能否被知名数据库收录,本刊已入选SCIE(科学引文索引)、SCI(科学引文索引)国际权威数据库来源期刊,该刊创刊于2007年,出版周期Quarterly,JCR分区等级:Q3,CiteScore指数:2.9。在中科院分区表2022年12月升级版中:大类学科分区3区,2022年的影响因子为2。本刊非开放获取期刊。

  • Gold OA文章占比:7.69%
  • 研究类文章占比:0.00%
  • 出版国人文章占比:0
  • OA被引用占比:
  • 开源占比:0.0667
  • 出版撤稿占比:

期刊评价指数统计Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems 期刊评价指数统计

影响因子与CiteScore指数
期刊自引率趋势图

影响因子:影响因子是一个相对统计量,是美国科学情报研究所(Institute for Scientific Information,简称ISI)每年出版的《期刊引用报告》(JCR,全称Journal Citation Reports)上的一项数据。它指的是某一期刊的文章在特定年份或时期被引用的频率,是衡量期刊影响力和学术水平的重要指标。

期刊自引率:期刊自引率是指该期刊中自己发表的文章被自己引用的比例,是一个反映期刊自身学术质量的重要指标之一 。具体算法为:自引率= (被本刊引用的次数)/ (期刊被引用的总次数)。SCI期刊的自引率应该在10%以下,如果自引率过高,可能会影响到该期刊的学术声誉和权威性 。

中科院SCI分区Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems 中科院分区

中科院SCI分区:2022年12月升级版
大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
物理与天体物理 3区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学:综合 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 OPTICS 光学
4区 4区 4区 4区
中科院SCI分区:2021年12月基础版
大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学:综合 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 OPTICS 光学
4区 4区 4区 4区
中科院SCI分区:2021年12月升级版
大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学:综合 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 OPTICS 光学
4区 4区 4区 4区
中科院SCI分区:2020年12月旧的升级版
大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术 3区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科学:综合 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 纳米科技 OPTICS 光学
4区 4区 4区 4区

中科院分区表:中科院分区表是以客观数据为基础,运用科学计量学方法对国际、国内学术期刊依据影响力进行等级划分的期刊评价标准,是中国科学院文献情报中心的研究成果。中科院分区表是将将JCR中所有期刊按照影响因子高低分为四个区:影响因子前5%为该类1区;影响因子前6%~20%为2区;影响因子前21%~50%为3区;影响因子后50%为4区。

JCR分区Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems JCR分区

JCR分区
JCR 分区等级 JCR 学科 分区
Q3 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC Q3
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY Q3
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY Q4
OPTICS Q3

JCR分区:JCR分区是一类国际通用和公认的期刊分区标准,将收录期刊分为176个不同学科类别。每个学科分类按期刊的影响因子高低,平均分为Q1、Q2、Q3和Q4四个区:影响因子前25%(含25%)期刊划分为Q1区;影响因子前25%~50%为Q2区;影响因子前50%~75%为Q3区;影响因子75%之后为Q4 。

Cite ScoreJournal Of Micro-nanolithography Mems And Moems Cite Score指数

  • CiteScore:2.90
  • SJR:0.298
  • SNIP:1.036
学科类别分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Mechanical Engineering
Q2
303 / 631

52%

大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering
Q3
399 / 738

46%

大类:Engineering 小类:Condensed Matter Physics
Q3
242 / 423

42%

大类:Engineering 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics
Q3
123 / 211

41%

大类:Engineering 小类:Electronic, Optical and Magnetic Materials
Q3
166 / 271

38%

通讯方式:SPIE-SOC PHOTOPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS, 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, USA, WA, 98225。

杂志社联系方式

SPIE-SOC PHOTOPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS, 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, USA, WA, 98225