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Ieee Transactions On Device And Materials Reliability

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

预计审稿周期：较慢,6-12周

Ieee Transactions On Device And Materials ReliabilitySCIEEISCI

IEEE T DEVICE MAT RE

大类学科：工程技术  小类学科：工程电子与电气

基本信息：
ISSN：1530-4388
E-ISSN：1558-2574
是否预警：否
是否OA：未开放
年发文量：92
出版信息：
出版年份：2001
出版地区：UNITED STATES
出版周期：Quarterly
出版语言：English
出版商：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
评价信息：
中科院分区：3区
JCR分区：Q3
文章自引率：0.0662...
影响因子：1.407
CiteScore：4.3
H-index：63
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期刊介绍 评价指数 中科院分区 JCR分区 CiteScore 免责声明

期刊介绍Ieee Transactions On Device And Materials Reliability期刊介绍

该期刊是一本由IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC出版的学术刊物，主要报道工程技术：工程电子与电气相关领域研究成果与实践。该期刊的创办有利于加强工程技术：工程电子与电气研究领域的学术交流，本刊将及时推出该领域的科研成果，使国际同行能及时、方便地查阅、引用，提高该研究领域工作者文献阅读水平，为工程技术：工程电子与电气研究事业的发展作贡献。国内外衡量期刊水准的尺度之一，是其论文能否被知名数据库收录，本刊已入选SCIE（科学引文索引）、EI（工程索引）、SCI（科学引文索引）国际权威数据库来源期刊，该刊创刊于2001年，出版周期Quarterly，JCR分区等级：Q3，CiteScore指数：4.3。在中科院分区表2022年12月升级版中：大类学科分区3区，2022年的影响因子为2。本刊非开放获取期刊。

  • Gold OA文章占比：5.70%
  • 研究类文章占比：98.21%
  • 出版国人文章占比：0.14
  • OA被引用占比：0
  • 开源占比：0.0147
  • 出版撤稿占比：0

期刊评价指数统计Ieee Transactions On Device And Materials Reliability 期刊评价指数统计

影响因子与CiteScore指数
期刊自引率趋势图

影响因子：影响因子是一个相对统计量，是美国科学情报研究所（Institute for Scientific Information，简称ISI）每年出版的《期刊引用报告》（JCR，全称Journal Citation Reports）上的一项数据。它指的是某一期刊的文章在特定年份或时期被引用的频率，是衡量期刊影响力和学术水平的重要指标。

期刊自引率：期刊自引率是指该期刊中自己发表的文章被自己引用的比例，是一个反映期刊自身学术质量的重要指标之一 。具体算法为：自引率= (被本刊引用的次数)/ (期刊被引用的总次数)。SCI期刊的自引率应该在10%以下，如果自引率过高，可能会影响到该期刊的学术声誉和权威性 。

中科院SCI分区Ieee Transactions On Device And Materials Reliability 中科院分区

中科院SCI分区：2022年12月升级版
大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术 3区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理：应用
3区 3区
是 是
中科院SCI分区：2021年12月基础版
大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理：应用
4区 4区
是 是
中科院SCI分区：2021年12月升级版
大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术 3区
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 PHYSICS, APPLIED 物理：应用
3区 3区
是 是
中科院SCI分区：2020年12月旧的升级版
大类学科 小类学科 Top期刊 综述期刊
工程技术 3区
PHYSICS, APPLIED 物理：应用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气
3区 4区
是 是

中科院分区表：中科院分区表是以客观数据为基础，运用科学计量学方法对国际、国内学术期刊依据影响力进行等级划分的期刊评价标准，是中国科学院文献情报中心的研究成果。中科院分区表是将将JCR中所有期刊按照影响因子高低分为四个区：影响因子前5%为该类1区；影响因子前6%～20%为2区；影响因子前21%～50%为3区；影响因子后50%为4区。

JCR分区Ieee Transactions On Device And Materials Reliability JCR分区

JCR分区
JCR 分区等级 JCR 学科 分区
Q3 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC Q3
PHYSICS, APPLIED Q3

JCR分区：JCR分区是一类国际通用和公认的期刊分区标准，将收录期刊分为176个不同学科类别。每个学科分类按期刊的影响因子高低，平均分为Q1、Q2、Q3和Q4四个区：影响因子前25%(含25%)期刊划分为Q1区；影响因子前25%～50%为Q2区；影响因子前50%～75%为Q3区；影响因子75%之后为Q4 。

Cite ScoreIeee Transactions On Device And Materials Reliability Cite Score指数

  • CiteScore：4.30
  • SJR：0.401
  • SNIP：1.077
学科类别分区 排名 百分位
大类：Engineering 小类：Safety, Risk, Reliability and Quality
Q2
61 / 192

68%
大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering
Q2
278 / 738

62%
大类：Engineering 小类：Electronic, Optical and Magnetic Materials
Q2
115 / 271

57%
通讯方式：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

杂志社联系方式

IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141

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