大功率LED灯具可靠性分析

时间:2022-07-03 09:28:17

大功率LED灯具可靠性分析

【摘要】分析了影响大功率LED 灯具可靠性的主要因素,如LED光源、驱动电源、散热系统等,并给出了相应的解决措施,提出了界面层裂对大功率LED可靠性的影响,对大功率LED 灯具可靠性的提高有较大的意义。

【关键词】LED灯具;可靠性;驱动电源;散热系统;界面层裂

1.引言

大功率LED作为照明光源,有节能环保、寿命长、体积小、发热小、响应速度快、安全低电压、耐候性好、方向性好等优点。目前,半导体照明是国家重点扶持的新兴产业,大功率LED是半导体照明的关键器件,LED照明正逐步取代传统照明技术,而最终能否实现半导体照明的普及,取决于大功率LED光效和可靠性问题的解决,可靠性是评价LED灯具质量的一个重要指标,对大功率LED灯具可靠性的研究,具有非常重要的意义。

2.影响大功率LED灯具可靠性的主要因素

可靠性指产品在规定的时间和条件下,完成正常规定功能的能力或概率。对于LED而言,要求其能在给定的工作条件下发射出一定量的光,但LED灯具的亮度,会随着工作时间的增加而衰减,其可靠性的高低,一般表现为工作条件下寿命的长短,通常定义LED光输出量衰减到初期值的 50%或 70%时的时间为LED的寿命[1]。

2.1LED光源

LED光源潜在的失效机理,主要有以下几种:

其一,芯片失效,即LED芯片本身失效或其他因素造成的芯片失效,从而导致LED直接失效;其二,封装失效,例如封装材料不良引起:环氧树脂、导电胶、硅胶、荧光粉、基座、固晶材料等;封装结构设计不合理,如材料不匹配、产生应力、引起断裂、开路等;封装工艺不合适,如装片、压焊、点胶工艺、固化温度及时间等;其三,电应力失效,即承受了超过额度的电参数条件或过高的瞬态电流而引发的LED失效,其产生的冲击有可能直接损坏芯片,或造成金线熔断等现象,致使LED失效;其四,热应力失效,即周期性热量变化或 LED内部温度超过最大额定值而引发的失效,热过应力产生的高温,会降低芯片发光效率,产生光衰加快、色移等严重后果,在LED 可靠性中,需重点关注此问题;其五,实际使用过程中,装配不当也会引发LED失效[2]。

要提高大功率LED灯具的可靠性,就必须采取相应的措施,使LED灯具尽可能消除或减少上述因素的影响。例如:改进封装设计、采用新型的封装材料、开发新的荧光粉和涂敷工艺、降低结温,以及进行静电防护等。为提高器件封装可靠性,在原材料选用方面要严格控制材料的质量,在封装结构上除了考虑出光效率和散热外,还要考虑多种材料结合在一起时的热涨匹配问题。在封装工艺上,要严格控制每道工序的工艺流程,尽量采用自动化设备、确保工艺的一致性及重复性,保障LED器件性能和可靠性指标。

2.2驱动电源

除LED光源外,驱动电源也是影响大功率LED灯具可靠性的重要因素。体积越来越小、高效率、高可靠性、对调光与非调光广泛的应用兼容性、无光耦等,成为了LED照明驱动电源的市场需求趋势。

大功率LED灯具对电源驱动的技术要求体现为:电路工作要高可靠性、高效率、高功率因素、合理的驱动方式、浪涌保护(LED抗浪涌的能力较差,尤其是抗反向电压能力)、保护功能(电源除一般保护功能外,最好在横流输出中增加LED温度负反馈功能,防止LED温度过高;在驱动电路有故障、LED短路或开路时,电路能对LED和自身起到很好的保护作用)、防护措施(如户外安装的灯具,其结构上要防潮湿、防水,外壳能耐高低温骤变)、驱动电源寿命与LED寿命能相匹配等[3]。

为提高驱动电源模块质量,确保LED灯具的可靠性,建议采取下列措施:

(1)电源模块选用品质好的电子元器件。(2)合理设计整体线路,包含电源变换、驱动电路、控制电路和保护电路等。(3)选择合适的保护电路,要保护模块性能质量,并且成本不能大幅增加。

2.3散热系统

大功率LED灯具由LED光源、驱动电源、散热结构及透镜等组成,因此散热也是一个重要的部分,如果不能很好散热、它的寿命会受影响,灯具的可靠性,很大程度上取决于散热水平,与LED散热相关的主要参数有结温、热阻和温升等。

LED照明灯具发光后产生的热量,主要通过LED基板和安装在LED上的散热装置散发出去,良好的散热设计可以大幅度延长 LED灯具的使用寿命。大功率LED散热一般可分为一次封装散热和二次热沉散热,前者指通过改善LED自身封装材料和优化封装结构进行散热,后者指通过设计开发散热器对LED进行热控制。

可见,解决散热问题的方法主要有两种:其一,改善灯具内部 LED芯片的质量,工作电流不变的情况下,使芯片发光的内量子效率提高,进而使芯片发光效率提高;其二,对灯具外部的散热设计进行改进,配置较为合理的散热装置,以达到加快散热的目的。在LED灯具中,需要使用散热片来控制LED芯片的温度,特别是结温,要低于LED芯片正常工作的安全结温,从而提高LED芯片的可靠性[4]。在封装散热设计方面,目前主要是硅基倒装芯片结构、金属电路板结构散热,以及环氧树脂和固晶材料等散热;在系统级散热方面,主要是热管散热、风冷强制散热和热电制冷散热等方法[5]。

2.4使用环境

除上述影响LED灯具可靠性的因素外,使用环境也会影响LED灯具可靠性,如在不同环境下,透镜变形、受损,使得LED灯具寿命缩短;另外,灰尘和潮湿等对LED灯具影响也较大,因此,为提高其寿命,就要做好相应防护措施,使用环境不同,技术要求也不同,需及时做好防尘、防潮、防磁和防雷击等措施。

3.界面层裂对大功率LED灯具可靠性的影响

环氧树脂是LED的主要封装材料,具有优良的电绝缘性能,但其缺点不容忽视,例如,易吸潮、易老化、耐热性差,并且在高温和短波光照下易变色,因而对LED的寿命影响较大。当芯片温度过高时,环氧树脂温度接近芯片结温,此时环氧树脂的CTE(热膨胀系数)会发生剧烈变化,此时产生的内部应力和水分的蒸气压力,很可能大于封装树脂与芯片、固晶胶和框架表面间的粘接力,导致它们的界面间出现剥离现象,甚至还会导致封装树脂或芯片出现裂纹[6-7],使得光衰现象严重。

综合现有文献,笔者发现,在电子封装中,对界面层裂的研究比较多,对于LED,目前国内外研究的主要问题集中在封装和系统级的热管理技术,较少考虑界面层裂对LED可靠性的影响,特别是界面层裂的程度对热阻、光衰等影响还不完全清楚。因此,对LED进行界面层裂的研究分析有重要意义。

为此,笔者将主要围绕大功率LED模组的界面层裂及对可靠性的影响进行研究分析,主要内容如下:

(1)对大功率LED模组的界面层裂所涉及的基本力学理论和热学理论进行分析。

(2)实验测试分析不同的热界面层裂情况对LED热性能的影响规律。

(3)建立有限元分析模型,研究分析界面层裂对热-机械可靠性的影响。利用有限元软件,以大功率LED为研究对象,建立有限元模型;采用有限元法分析界面层裂对LED热阻的影响,分析散热不良导致结温过高从而对LED寿命造成的影响;研究分析大功率LED模组在热环境下由于界面层裂对LED的应力分布及可靠性造成的影响。

(4)对有限元仿真和实验结果进行对比分析,完善有限元模型。在此基础上,对LED模组的封装结构提出优化设计。

通过实验和有限元仿真,研究界面层裂情况对大功率LED模组的热-机械可靠性的影响,探讨LED退化和失效机理,通过热-机械耦合,分析界面层裂对界面热阻的影响规律,相信能得出一些新颖、实用的结果。

4.小结

通过对大功率LED灯具的相关研究,分析了LED光源、驱动电源、散热情况、使用环境等对大功率LED灯具可靠性的影响,列出了相应的解决措施,对灯具可靠性的提高有较大的意义,最后,提出了界面层裂对大功率LED灯具可靠性的影响,相信通过实验和有限元仿真,能得出一些新颖的结果,对提高大功率LED灯具的寿命提供一些实用的参考意见。

参考文献

[1]Shinya Ishizaki.大功率白光LED的寿命测定[J].中国照明电器,2008,1:39-44.

[2]赵阿玲等.大功率白光LED寿命试验及失效分析[J].照明工程学报,2010,21(1):51-52.

[3]公文礼.大功率LED灯具电源驱动的分析与研究[J].灯与照明,2009,33(4):29-30.

[4]杨广华等.基于LED照明灯具的散热片设计与分析[J].电子与封装,2010,10(1):39-41.

[5]魏娇.LED 灯具的可靠性分析[J].电子世界,2014,(17):77

[6]Hyunsoo Kim,Ji-Myon Lee,Chul Huh,etal.Reliability and Modeling of GaN-based Light Emitting Diode,2000 Device Research Conference,IEEE,2000:73-74.

[7]G.Meneghesso,S.Levada,R.Pierobon,etal.Degradation mechanisms of GaN-based LEDs after accelerated DC current aging,IEEE,2002:103-106.

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