照明用LED的国际及国家标准发展现状

时间:2022-06-20 09:53:06

照明用LED的国际及国家标准发展现状

【摘 要】 目前,国内外均没有专门命名为半导体照明的标准,只有有关普通LED的测试标准与普通光源有关方面的标准。

【关键词】 国内LED 国外LED 国内LED的发展

1 国外普通LED的测试标准有

(1)IEC60747-5半导体分立器件及集成电路;

(2)IEC60747-5-2分立半导体器件及集成电路零部件5-2:光电子器件―分类特征及要素(1997-09);

(3)IEC60747-5-3分立半导体器件及集成电路,零部件5-3:光电子器件―测试方法(1997-08);

(4)IEC60747-12-3半导体分立器件12-3:光电子器件―显示用发光二极管空白详细标准(1998-02);

(5)CIE127-1997LED测试方法(1997);

(6)CIE/ISOLED强度测试标准。

随着半导体照明产业的快速发展,发达国家非常重视LED测试标准的制订。如美国国家标准检测研究所(NIST)正在开展LED测试方法的研究,准备建立整套的LED测试方法和标准。同时,许多国外大公司的研究和开发人员正在积极参与国家和国际专业化组织,制订半导体照明测试标准。如2002年10月28日,美国LumiLEDs公司和日本Nichia宣布双方进行各自LED技术的交叉授权,并准备联合制订功率型LED标准,以推动市场应用。 在照明用白光LED标准的推动方面,进展最快的国家是日本,其中日本照明学会(JIES)、日本照明委员会(JCIE)、日本照明器具工业会(JIL)以及日本电球工业会(JEL)在2004年已订出四团体共同标准《照明用白色LED测光方法通则》,成为目前唯一针对照明用白光LED所订定的测量标准,其在初版时就已率先制订数项未曾规范过的项目,如标准LED之制造、小型模块光强度的测量法以及寿命评估方式等。

2 从八十年代初起,我国相继制定了一些与发光二极管相关的行业标准和国家标准

国内现有与LED测试有关的标准有:

(1)Sj2353.3-83半导体发光二极管测试方法;

(2)Sj2658-86半导体红外发光二极管测试方法;

(3)GB/T12561―1990发光二极管空白详细规范;

(4)GB/T15651-1995半导体器件分立器件和集成电路:光电子器件(国家标准);

(5)GB/T18904.3―2002半导体器件12-3:光电子器件显示用发光二极管空白详细规范(采用IEC60747-12-3:1998);

(6)半导体分立器件和集成电路第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性(国家标准;制订中);

(7)半导体分立器件和集成电路第5-3部分:光电子器件测试方法(国家标准;制订中);

(8)半导体发光二极管测试方法(中国光协光电器件分会标准;2002)。

3 其中半导体光电子器件功率发光二极管空白详细规范规定内容如下

本空白详细规范是半导体光电子器件的一系列空白详细规范之,并应与下列标准一起使用。

(1)GB/T 4589.1-200X半导体器件分立器件和集成电路总规范(eqv IEC6-747-10:1991);(2)GB/T12565-1990半导体器件光电子器件分规范;(3)GB/T 4937-1995半导体器件机械和气候试验方法(idt IEC 60749:1984);(4)SJ/T 2355-200X半导体发光器件测试方法。

该标准适用于功率级LED,与GB/T 18904.3-2002“半导体器件第12-3部分:光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 ”相比,在标准中补充了功率LED区别于普通LED的热学方面的测试要求,及用于照明领域时光度学、色度学的测试要求。同时与新的 “ 半导体发光二极管测试方法”配套使用。

目前我国LED行业标准发展很快,但主要是集中在LED灯具方面的检测标准比较多,涉及到LED器件的标准很少,主要还是参照以上国际标准来开展检测工作。以下是国内有关LED及灯具的现行行业标准(表1)。

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